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- 在使用平晶时,会使平晶平面度（）。无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过（）。非接触测量是测量装置的（）元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用
- 杠杆或百分表在任意0.1mm范围内的示值误差不超过（）。扭簧表指针末端与表盘刻线宽度为（）。量具的选择应与（）的选择一并考虑。5μm
6μm#
8μm0.1～0.2mm#
0.15～0.2mm
0.18～0.25mm标准件
测量方法#
接触形式
- 表面粗糙度比较样块的新国标规定了（）。1级千分尺测量面的不平度应不大于（）毫米深度游标卡尺尺身和尺框测量面的不平度用一级刀口足以光隙法检定时应在被检测量面的长短边及（）方向上进行.内测千分尺的示值误差,
- 千分尺的测微螺杆,其轴向窜动量和径向摆动量应不大于（）。内测千分尺的示值误差用专用环规检定,也可用5等或2级量块和量块附件组成内尺寸检定。其示值误差不超过（）。企业、事业单位建立的各项最高计量标准,须经（
- 不论框式水平仪还是条式水平仪,其V工作面为基面的零位,用心轴检定时,当V形面夹角为a,V形槽宽度为c情况下,则心轴直径d为（）。d=（c/2cosa/2）#
d=（c/acosa/2）
d=（c/2sina/2）
- 百分表和千分表,其示值变动性应不超过（）。壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于（）。用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是（）。0.5分度
0.3分度#
0.1分度1um
1.2
- 用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是（）。球面干涉
等倾干涉
等厚干涉#
- 测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以（）为基准。设计基面#
工艺基面
装配基面
- 直角尺的工作角的垂直度要求,随其结构型式不同也不一样,有的分0级和1级,其垂直度不超过（）。用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的（）。用游标卡尺测量工件时,要尽量进入量爪内靠近尺身,
- 必须使用V形架和工作台支承内径千分尺,其支承位置应牌离内径千分尺测量端面的距离a为（）。若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,
- 非接触测量是测量装置的（）元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺
- 用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为（）。千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,为便计量结果更准确些,应选下列电
- 由接触位置改变所引起的误差,对点接触来说是（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以（）为基准。一次误差
二次误差#
三次误差设计基面#
工艺基面
装配基面
- 分度值为0.05mm/m的条式水平仪,同时还应有较高的（）。对于没有标准规定的工件测量,测量方法的允许误差一般取工件公差的（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,并尽可能的以（）为基准。比较仪指针末端应盖住分度
- 在1级平板上进行,其平面度不大于（）。孔径千分尺的测微螺距是0.25mm,则三爪组成的园周半径位移是（）。非接触测量是测量装置的（）元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。标准件的精度要求较高,
- 杠杆齿轮式比较仪的示值变化及示值误差在非正常方位时,可按正常方位放大（）。接触测量是测量装置的（）元件（测头）与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。20%
30%
50%#敏感#
灵敏
灵活
- 比较仪测帽测量面对测量轴线的垂直度不大于（）。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即（）确定。两光波频率相同,在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差,这是光波
- 样板直尺的工作棱边倒圆半径不大于（）其它棱边充倒角。壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于（）。游标卡尺刀口内量爪的尺寸和平行度用1级外径千分尺检定,其所用千分尺的测力应为（）。0.05mm
0.01mm
0.2mm#1u
- 用刀口尺（样板直尺）检定工作面的平面度时,通常用光隙法进行,当采用此法检定时,其间隙量一般不大于（）。分度值为0.05mm/m条式水平仪,其零位误差不超过（）。分度值为0.05mm的游标卡,其园柱面内测量爪的尺寸偏差和
- 若有一量具工作面的平面度为0.010mm,为了达到检定结果的准确起见,该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。游标卡尺的刻度,当分度值为i,模数为r=2时,则主尺的刻线间距a和副尺刻线间距b的关系为（）。用刀口尺以光
- 比较仪工作台面与测量轴线的垂直度应不大于（）。接触测量是测量装置的（）元件（测头）与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。对于没有标准规定的工件测量,测量方法的允许误差一般取工件公差的（）。在
- 百分表的构造,由测量杆的直线位移变为指针的角位移,实现它的传动放大机构是（）。千分尺的测力是指工作面与（）接触时所作用的力。用研磨面平尺检定样板直尺工作棱边的直线度时,所产生的间隙长度不应超过被检样板直
- 比较仪指针末端应盖住分度盘短刻线长度的（）。检定游标高度尺的示值误差或量爪工作面与基座工作面的平行度时,在1级平板上进行,对1级平板来说,其平面度不大于（）。用等厚干涉测量平直度时,两条相邻干涉条纹所对应的
- 游标卡尺的刻度,当分度值为i,模数为γ时,则主尺的刻线间距离a与副尺（游标）刻线间距b的关系为（）。有测长仪在示值误差检定之前,必须借助尾管上两上径向调整螺丝来调整,球面测帽,至正确状态,欲知达到正确状态,则看仪
- 分度值为0.02mm的游标卡尺,其刻线宽度及宽度差是（）。深度游标卡尺尺身和尺框测量面的不平度用一级刀口足以光隙法检定时应在被检测量面的长短边及（）方向上进行.用于测量孔的直径千分尺,其中示值误差最小的千分尺
- 带深度尺的卡尺,深度尺在尺寸20mm一点检定,其示值误差不超过（）。外径千分尺和校对量杆的工作面表面粗糙度Ra应不大于（）。按我国法定计量单位使用方法规定,计量单位符号ms是（）。0.05mm
0.10mm
卡尺的分度值#0.04
- 内径千分表的示值误差受检点是每隔（）检一点。用等厚干涉测量平直度时,两条相邻干涉条纹所对应的空气隙厚度差为（）。0.1mm
0.02mm
0.05mm#1／2入#
入
C>1／4入
- 分度值为0.05mm的游标卡,其园柱面内测量爪的尺寸偏差和平行度分别不应超过（）。带深度尺的卡尺,深度尺在尺寸20mm一点检定,其示值误差不超过（）。±0.01mm和0.01mm#
±0.02mm和0.01mm
±0.03mm和0.01mm0.05mm
0.10mm
- 内径量表示值误差是在工作行程（）上进行检定。用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测
- 块的级根据中心长度极限偏差,平面平行度偏差和其它有关技术条件即（）确定。用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的（）。一级杠杆千分表,在任意0.2mm范围内的示值差不超过（）。检定游标高
- 高度游标卡尺的用途,除了测量高度外,还用于划线,划线用的量爪,其刃口原度为（）。深度游标卡尺尺身和尺框测量面的表面粗糙度用表面粗糙度样块比较检定。对于分度值为0.02mm的Ra值不大于（）。（0.15±0.05）mm#
（0.1
- 千分尺校对用的量杆,其两端平工作面的平行度符合要求,而长度尺寸超过了要求时,可按实际尺寸使用,其实际尺寸是（）。表面粗糙度比较样块的新国标规定了（）。一面上各点中的一点至另一面的最大垂直距离（即最大尺寸）
- 表盘刻度型式为50或100个分度的指示表（百分表、千分表）大指针末端上表面至表盘刻度面之间的距离应不超过（）。测量方法的极限误差应取计量器具允许误差的（）。平面度误差是指包容实际表面,而距离为（）的平行平面
- 一级杠杆千分表,在任意0.2mm范围内的示值差不超过（）。用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为（）。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点
- 按我国法计量单位的使用规则,15℃应读成（）。用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以（）为基准。
- 分度值为0.02和0.05mm测量上限至1000mm的游标卡尺外量爪测量面的平面度,要求不超过（）。0.002mm
0.005mm
1/10分度值#
- 1级千分尺测量面的不平度应不大于（）毫米0.001#
0.002
0.003
- 高度游标卡尺的用途,除了测量高度外,还用于划线,划线用的量爪,其刃口原度为（）。（0.15±0.05）mm#
（0.10±0.05）mm
（0.20±0.05）mm
- 深度百分表的示值变动性不应大于（）。3μm
4μm
5μm#
- 有测长仪在示值误差检定之前,必须借助尾管上两上径向调整螺丝来调整,球面测帽,至正确状态,欲知达到正确状态,则看仪器的示值是否出现（）。用于测量孔的直径千分尺,其中示值误差最小的千分尺是（）。游标卡尺的刻度,
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