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- 半衰期就是某一元素的原子核经衰变至（）。10Ci钴60γ射线源衰减到1.25Ci,需要的时间约为（）。其原有原子核总数一半所需的时间5年
1年
16年#
21年
- X射线和γ射线都是电磁辐射,而（）不是电磁辐射。对于大多数固体和金属介质来说,通常所说的超声波衰减仅包括（）而不包括扩散衰减。（）Qm较小能获得较高的分辨力和较小的盲区。有关退磁的叙述,正确的是（）。中子射
- 电子与质子的电荷基本（）,符号（）。焊缝超声波检测中最常用的超声波波型是（）。AVG曲线也叫（）,描述了距离、波幅增益量和缺陷当量尺寸三者之间的关系。底片黑度公式D=LgLo/L,其中（）。下列是渗透探伤中进行干燥
- X射线本身不带任何电性,不受（）、（）的影响。电场；磁场
- 其指向角（）。采用底波高度法（F/B百分比法）对缺陷定量时,下面说法正确的是（）。当管电压为一定值时,增大管电流,则连续X射线的线质强度和波长将发生（）。零件经过打磨、磨削或火焰去除缺陷后,下一步应当（）。CS
- 光电效应中光子被（）。检测筒状工件（r/D＜86%＝时,选择（）。底片的黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积,该反比定律在（）下失效。冲洗条纹表现为模糊的条纹状影像,它是射线照片上的伪缺陷之一,其主要产生原因是（
- 对于γ、X射线,其剂量当量中的线质系数值为（）。Z1≠Z2≠Z3时,要使Z3有较高的透声效果,Z3厚度应为（）。波阵面中波的（）称为波线。（）曲线是给定X射线机在选定工艺条件下制作的。在双胶片技术中按照感光度高低的胶片
- 通常以有效输出表示,下述哪一项不正确（）半值厚度R/h•ci
R/m•s•ci
m•R/h•ci#
R/m•h•ci（注：1ci=3.7*1010Bg）透过射线强度加强
曝光光子能量增大
经常熔断电源保险丝化#
A、B和C3～12个月开始出现贫血
有特殊面容
- 放射性同位素衰变时,同位素的原子核是以（）和（）蜕变的。用板波法探测薄钢板时,（）把荧光屏上的反射波区分出是内部缺陷还是表面缺陷。粒子发射；K俘获方式能
不能#
有时能
观察不到表面缺陷波
- 半价层的大小与（）有关。X射线管真空度不良会造成（）。荧光磁粉探伤中,便携式黑光灯中常用的汞气灯泡的功率为（）。管电流透过射线强度加强
曝光光子能量增大
经常熔断电源保险丝化#
A、B和C200W
50W
100W#
75W
- 因为发生光电效应后光子即消失了,所以光电效应也叫（）。原子的组成部分为（）。金属增感屏能起增感作用,是由于增感屏受射线照射时（）。光电吸收质子、电子、中子#
质子、电子、γ射线
光子、电子、中子
原子、质子
- “同位素”指的是（）,（）的元素。（）会使黑光灯泡的寿命降低。质子数相同；中子数不同电源电压波动很大#
灯泡上有灰尘
室温变化
A、B和C
- 斜探头探伤时,若条件允许,应在焊缝上下两侧表面进行（）。不锈钢堆焊层比基材钢的声阻抗大2%,在两者界面上的声压反射率为（）。一般来说,对仪器的衰减器精度要求是任意相邻12dB误差（）。在吸收剂量相同的情况下,（
- 直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。工程中许多构件在工作时出现随时间而交替变化的应力,这种应力称为（）。工业用X光机的X射线管多用钨作靶材料,这首先是因为钨的
- 锻件中非金属夹杂物的取向一般是（）时的变形方向。接触法斜角探伤时,如果入射角达到第二临界角,会发生（）。声压是指声波在传播过程中,介质某一点的（）超过没有声波存在时的静态压强的量值。平行于锻造横波全反射
- 缺陷波幅在Ⅲ区的缺陷需要返修,测长后画出（）,便于返修。采用水浸法探伤时,根据（）产生的回波情况进行缺陷评定。磁粉探伤时,对试件施加适当的磁场强度值应该是（）。缺陷的部位第一次表面回波之前和第二次表面回波
- 原子核内的（）和（）的质量基本相等。与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。X射线和γ射线的共同点是（）。10Ci钴60γ射线源衰减到1.25Ci,需要的时间约为（）。（）会影响渗透剂迹痕的分辨率。质子；中
- 超声波在某一角度范围内集中辐射的性质称为（）。透照厚度差变化较大的工件时,为了降低对比度、增大宽容度,最好的方法是（）。显影液中不可缺少的药品是（）。增感屏厚度增加会引起（）。下列有关漏磁通的叙述正确的
- 与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探伤方法是（）探伤。焊缝金属的二次结晶的组织和性能与（）有关。波阵面是指波在弹性介质中传播时,同一时刻介质中振动相位（）的所有各点的轨迹。惠更斯原理是介质中波动传到的
- 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。材料的加工工艺性能包括（）。JB1152-81标准规定,斜探头K值的测定应在声场的（）。探头内（）的主要作
- 焊缝中的裂纹缺陷一般用（）与未焊透相区别。手持电极法磁粉探伤使用的安培数依据（）确定。A、左右移动
B、前后移动
C、定点转动#
D、以上都是A、材料类型
B、电极间的距离#
C、零件长度
D、零件直径
- 用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果（）。与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。（）会影响渗透剂迹痕的分辨率。越差回波幅度与底面反射波高度相差不大
底面反射完全消失
缺陷反
- 直探头对长形工件探伤时,由于声束扩散,一部分能量打在工件侧面转换为（）,经过几次波型转换后,要比单按纵波垂直反射回波时间滞后。所以称为（）。高能射线是能量在（）兆电子伏特以上的X射线。不适宜采用水洗性渗透
- 在手工探伤中一般使用直接接触法而不使用（）。原因是液浸法手工探伤时难以保持稳定；直接接触法探伤,方法简单、使用方便。除了属于正应力范畴的拉应力和压应力外,应力分析中还会遇到（）。检测厚钢板采用垂直法探伤
- 衰减器大小的变化会影响仪器的（）。结晶应力与拘束应力的影响在脆性温度区内,金属的强度极低,焊接应力使这部分金属（）,达到一定程度时,就会出现结晶裂纹。在压电晶体的电极上施加高频交变电压时,晶体按电压的交变
- K值是指斜探头折射角的（）。低能射线以（）为主。原子核的（）等于质子数。美国ASTM、ASME透度计2-1T号的等效灵敏度为（）。正切值光电效应#
康普顿效应
电子对生成效应
以上都对光子数
正电荷数#
中子数+电子数
以
- 超声波探伤中常用的换能器是利用（）产生超声波的。X射线与γ射线的区别是（）。（）用湿法荧光磁粉探伤进行检验比干法好。压电效应穿透能力不同
强度不同
产生机理不同#
A、B和C零件大而笨重时
需要提高检验速度和灵
- 探头指向角是晶片尺寸和介质中波长的（）。它随频率的增加、晶片直径的减小而（）。探头匹配了阻尼块以后,使始脉冲变窄,盲区变小,分辨力（）。在双胶片技术中按照感光度高低的胶片的曝光曲线选取感光度高的胶片后,应
- 影响直接接触法超声耦合的因素有超声波在耦合介质中的波长、（）、（）等。下列关于焊接变形叙述中不正确的是（）。在钢板表面传播的超声波称为（）。耦合层厚度；耦合介质声阻抗在一般情况下,焊接变形是对焊接质量
- 用试块法调节锻件探伤灵敏度时应作（）及（）补偿。斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为（）。管电压为150kV时,辐射的X射线光子能量最大为（）。X射线透照电压100KV时,铝相
- 通常,斜角探伤时,探伤面的修整区域应能满足（）。原子核的（）等于质子数。淬火螺栓经磁粉探伤后,通电法退磁的电流（）。磁粉探伤前不允许用（）去除零件表面的油或润滑脂层。二次波的扫查范围光子数
正电荷数#
中子
- 钢板水浸探伤中,如果入射角为（）,在板中将会产生（）。介质中质点产生相应的（）,使质点作椭圆轨迹的振动和传播叫兰姆波。对于形状复杂的锻件,较好的处理方法是（）。金属增感屏能起增感作用,是由于增感屏受射线照
- 探头中晶片压电材料的作用是（）。在焊缝的超声波检测中,为了防止遇到垂直于底面的缺陷回波声压太低,一般都尽可能避免使用折射角为（）的斜探头。发生光电效应几率的实验近似公式为（）。A、将电能转换为机械能
B、
- 钢管水浸探伤时水中加入适量润湿剂的主要作用是（）。下列不是按化学成份分类的钢是（）。原子核的（）等于质子数。在中低能量射线照相中,使用铅增感屏的底片的固有不清晰度（）。能用磁粉探伤检出的缺陷是（）。下
- 一般来说,对仪器的衰减器精度要求是任意相邻12dB误差不大于（）。决定Χ射线管靶材适用性的两个因素是（）。1dB拉伸强度和屈服强度
焦点和磁强度
电阻和抗氧化性能
原子序数和熔点#
- 超声波探伤中,晶片表面和零件表面之间使用耦合剂的原因是（）会使超声波完全反射。把钢中横波折射角为50°的斜探头移至横波声速为2.17×103m/s的材料上,则折射角约为（）。X射线与γ射线的区别是（）。X,γ射线的主要区
- 锻件探伤中,荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒（）。平面波是指波源为一无限大平面声源,任意时刻的波阵面为与声源（）的平面。（）d33较大,可获得较高的发射灵敏度。“光电效应”的光子能量按（）形式被吸收。下
- 探测铝材时,正确的是（）。下面关于渗透探伤的零件上污染材料的说法中,不正确的是（）。2把磁粉很快地投入大量的水中,然后仔细地搅拌
先把磁粉和少量水搅拌,然后再慢慢地稀释
先把磁粉用表面活性剂仔细搅拌,分散于大
- 检测晶粒粗大的材料应使用（）的探头。脉冲波是指振动持续时间（）的波动。当声程S≥6N（远场区）长度时,反射体的定量结果（）。某放射源的衰变常数λ=0.0035/天,因为其半衰期为（）。射线的线质越硬,其半价层厚度越（
- 仪器的盲区除了与（）有关外,主要还决定于接收放大器在强信号冲击下的阻塞恢复时间。超声波从声阻抗Z1的介质通过声阻抗Z2的薄层介质向声阻抗Z3的介质透入时,为了得到良好的透声效果,应当使薄层厚度等于1/4波长的奇数
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