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- 一般来说,曝光量只有选择在胶片特性曲线的直线部分,（）。按GB3323—87要求,有效评定区的黑度,X射线（）。物体在外力作用下,其形状尺寸所发生的相对改变称为（）。超声波探伤仪的主要性能指标有（）。（）迟到时间与
- 射线源焦点尺寸太大造成（）。换能器声压波动区域的长度主要取决于换能器的（）。X射线机标准管电压值是管电压的（）。磁粒检测法中使用标称15/100的A型灵敏度试片,它表示（）。不能穿透工件
底片清晰度增加
底片清
- 电磁波中的频率f、速度C、波长λ三者之间的关系是（）。使用直接接触法探伤,以下说法正确的是（）。采用与被透照工件对射线吸收性质相同或相近的材料制成块状物、糊膏、粉剂或液体,用于填补工件不同厚度部分,使工件的
- 射线通过胶片时,能在胶片上激发出自由电子,这些散乱的自由电子也能使胶片感光,形成不清晰度,这种不清晰度称之为（）。A型显示是指探头接收到的信号幅度和超声波的传播时间以（）表示的显示方式。增感屏厚度增加会引
- 高能X射线一般指的是其能量在（）级以上的X射线。国家对放射性工作实行许可登记制度,许可登记证（）。清洗处理和去除处理是为了去除附着在被检物表面残余的（）。活度为100Ci的放射源,经过三个半衰期后,其活度为（）
- 线形透度计应放在（）。通常所指的金属材料的性能是（）。防止焊瘤的措施有（）。用有机玻璃作斜楔的斜探头探测横波速度为3080m/s的铝制件,得知铝中横波折射角为60°,则斜探头的入射角约为（）。远离射线源一侧的工件
- 下列同位素中（）的半衰期最长。按《压力容器安全技术检察规程》规定,局部探伤的压力容器拼接封头（管板）的对接接头,应这样探伤（）。下列几种探头中（）探头的晶片最薄。在磁粉探伤中对磁粉的性能要求是（）。A、
- 原子核内的质子数相同,而（）数不同的元素叫做同位素。（）是指沿着焊趾,在母材部分形成的凹陷或沟槽,它是由于电弧将焊缝边缘的母材熔化后没有得到熔敷金属的充分补充所留下的缺口。把钢中横波折射角为50°的斜探头移
- 超声波只有在（）时才能在异质界面发生波型转换,并且至少一侧为固体。在对接焊缝超声波探伤中,根据CSK—ⅢA试块测量得到的数据绘制好“距离—分贝”曲线,若要计入表面补偿4DB,则应（）。探头中使用压电陶瓷晶片的优点是（
- 在X射线照相中使用相纸技术时,其黑度的测量是采用（）。超声波入射到平面缺陷产生波型转换时,这与波的（）有关。射线安全防护措施中,一般不作为考虑因素的是（）。透射式黑度计
反射式黑度计#
聚焦旋转式黑度计
以上
- 射线的线质越硬,波长越短,衰减系数越小,半价层厚度（）。公式：λ=c/f为（）的公式。纵波垂直法探伤中,由于（）的结果,远离侧壁探测时缺陷回波高。当阳极靶采用钨（Z=74）,管电压为350KV,（η=1×10-9）X射线的转换效率
- 下列技术中适于检验厚度很大物体表面层缺陷的是（）。工程中许多构件在工作时出现随时间而交替变化的应力,这种应力称为（）。管材水浸法探伤中偏心距x与入射角α的关系是（）。（r、R为管材内、外半径）X,γ射线的主要
- （）是指：每秒的脉冲次数。在中薄板的直探头多次反射法探伤中,由于多次反射之间的（）作用,使小缺陷多次反射回波高度常常是第一次要比第二次偏低。工业用X射线机包括（）等主要部件。通常渗透剂的渗透时间是（）。
- 直探头接触法探伤时,（）要涂布耦合剂。惠更斯原理适用于（）。超声波入射到平面缺陷产生波型转换时,与波的（）。下列有关轻便式磁轭探伤装置的叙述（）是正确的。探头与工件表面之间#
工件底面与空气之间
仪器与探
- 高速运动的电子在与靶金属的原子核外电场作用时,发射出（）。（）的表达式是指射线剂量率与离射线源的距离平方成反比,。X射线管是发射X射线的射线源,在一定的管电压下,X射线管的管电流大小取决于阴极发射的电子量的
- 不同透照电压的厚度宽容度不同,这直接反映在其曝光曲线的（）。振动方程描述了（）。平面波在某一时刻的波前形状为一（）。电磁波中的频率f、速度C、波长λ三者之间的关系是（）。直径25mm与50mm的两个圆棒,通以相同
- 底片的黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积,该反比定律在（）下失效。在压电晶体的电极上施加高频交变电压时,晶体按电压的交变频率和大小在厚度方向上相应地伸长或缩短,产生（）,从而辐射出高频声波,这种现象称为逆
- 厚板超声波探伤时,若纵波的频率提高,其声速将（）。预热可以防止（）。洛氏硬度标度用（）表示。（）是指波在传播过程中遇到障碍物时能绕过障碍物的边缘继续前进的现象。高能X射线一般指的是其能量在（）级以上的X射
- 底片黑度公式D=LgLo/L,其中（）。惠更斯原理是介质中波动传到的任意一点都可看作为发射子波的波源,在其后的每一时刻,这些子波的（）就形成了一个新的波阵面定向X射线管有效焦点大约为实际焦点的（）。下列有关磁粉的
- 焊缝斜角探伤中,常用手指蘸耦合剂拍打回波源的办法判定干扰回波,下面的说法正确的是（）。在磁粉探伤中对磁粉的性能要求是（）。回波微微跳动,该表面是回波反射源#
内部有缺陷
可能是声波通过部位
以上都是矫顽力高
- 钢板探伤中可根据（）判断缺陷是否存在。高速运动的电子在与靶金属的原子核外电场作用时,发射出（）。参考回波减弱
缺陷回波
底波
以上都对#溴化银微粒
增感作用
连续X射线#
加速器中子源
- 原子核的（）等于质子数。（）的特征量通常用声压、声强、声阻抗等来描述的。同位素就是原子序数相同,（）不同的一种元素。下列有关磁粉探伤用的设备装置的叙述,（）是正确的。后乳化渗透检验应在（）施加乳化剂。光
- 光电效应发生时,光子的能量（）。低碳钢焊接时,其焊接性能（）一般不采用特殊工艺措施,如预热、缓冷等。铁素体是指（）。与表面光滑的工件相比,表面粗糙的工件直接接触探伤时,应使用（）。活度为100Ci的放射源,经过
- （）的大小可以改变仪器的灵敏度。耐热钢焊接时,易产生（）。检测筒状工件内外径之比小于86%时,r/D＜86%,应选择（）。管材自动探伤设备中,以下说法正确的是（）。在用针孔测量法测量X射线管的有效焦点尺寸时,应使用
- 荧光屏图形上产生“幻影”的原因可能是（）。国家对放射性工作实行许可登记制度,许可登记证（）。按GB3323—87的AB级象质要求,任一给定点在1s钟内所通过的完整波的个数称为（）。入射角30°的有机玻璃斜探头探测钢时,当
- （）的表达式是指射线剂量率与离射线源的距离平方成反比,。圆形缺陷是在规定的评定区内折算成点数来评级的,其具体要求是（）。按GB3323—87规定,对于圆形缺陷可以采用扩大评定区的办法评定,波动所到达的空间各点所连
- 超声波入射到平面缺陷产生波型转换时,与波的（）。水中声速与钢的声速之比约为（）。可以改变仪器灵敏度的控制开头或旋钮有（）等。胶片冲洗时,显影液温度应控制在（）。X射线管中电子的速度越小,则所发出的射线能量
- 背散射线不影响底片的（）。咬边减小了母材的有效截面积,降低结构的承载能力,同时还会造成（）。加入一定的合金元素,减小柱状晶和偏析。如（）等可以细化晶粒防止结晶裂纹。对比度
清晰度
感光度#
以上都不是应力集
- 未曝光胶片与铅箔增感屏一起装入暗盒携带到野外进行射线照相作业,野外环境气温高达39℃,在强烈阳光的较长时间照射下,底片上会发生（）。波源和弹性介质是（）的条件。超声波探头辐射的声场中,声压以（）最高。电子伏
- 放射性同位素60Co中的60叫做质量数,其原子核中含有27个质子和（）个中子。停显液的成分是（）。27
33#
60
870.2%～0.5%的冰醋酸
0.5%～2.5%的冰醋酸
1.5%～5%的冰醋酸#
5%～10%的冰醋酸
- 超声波倾斜入射到异质界面时会产生（）现象,通过这个现象可以获得从异质界面反射回来的不同波型,从而达到探伤的目的。纵波垂直法探伤中,由于（）的结果,靠近侧壁探测时缺陷回波低,远离侧壁探测时缺陷回波高。背散射
- 透照某工件时采用荧光增感,假定管电流为10mA,曝光时间40s,可以得到理想的射线底片,若用5mA管电流得到同样黑度的底片,需要的曝光时间是（）。吸收衰减是指超声波在介质中传播时,由于介质的粘滞性而造成质点之间的内摩
- 胶片特性曲线上两个特定黑度点的（）是对比度的平均梯度。下列不是按化学成份分类的钢是（）。超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质,若下述等式成立,则透声效果较佳的是（）。放射性同位素60
- 超声波远场区中心轴线上的声压随着声程的增加而下降。超声波检测频率越高,则（）。当要求探头有最大灵敏度时（）。正确#
错误A、波长短
B、声束窄
C、能量集中
D、以上都对#A、应使用直探头
B、要使用大晶片探头
C、
- 使用对比试块的主要目的是（）。当采用焦距F大于曲率半径R的偏心内透照法检验环焊缝时,搭接标记应放在（）。（）是指：每秒的脉冲次数。作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷的严重程度提供依据#
为探伤人员提供
- 用10Ci的铱192放射源在野外对距其1m处厚20mm的钢进行透照拍片,已知该射源的电离常数为0.6rhm/Ci,对钢的半值层为10mm,为了获得2.0黑度的底片需要曝光（）。康普顿效应中,散射光子的波长大于（）的波长。不适宜采用水
- 在选用透照参数时,曝光量应（）。底片黑度公式D=LgLo/L,其中（）。不大于曝光曲线推荐的最小值
不小于曝光曲线推荐的最小值#
不小于曝光曲线推荐的最大值
以上都不是lo是入射线强度,L是透射射线强度
lo是入射光强度,
- 如曝光量增加1倍,底片黑度增加0.09,该胶片反差系数为（）。水平线性的好坏影响缺陷（）的精度。（）d33较大,可获得较高的发射灵敏度。后乳化渗透检验应在（）施加乳化剂。不适宜采用水洗性渗透探伤法检测的缺陷是（
- 影响仪器（）的旋钮有发射强度和增益旋钮、衰减器抑制旋钮等。GB3323—87标准对观片灯的要求是（）。（）是指波在传播过程中遇到障碍物时能绕过障碍物的边缘继续前进的现象。为了提高X光管的真空度,（）。X射线管中电
- 射线照相的灵敏度受（）影响。射线的能量
几何因素与胶片粒度
胶片的反差系数
A、B和C#
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