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- 斜探头K值的测定应在声场的()以外进行。磁导率远大于1的材料是()材料。2N抗磁
铁磁#
非金属
金属
- 声强具有()的概念。透照厚度差变化较大的工件时,为了降低对比度、增大宽容度,最好的方法是()。功用不同感光速度的双片法#
提高管电压
选用慢速微粒胶片
A、B和C
- ()原理:介质中波动传到的任意一点都可看作发射子波的波源,在其后的每一时刻,这些子波的包罗就形成了一个新的波阵面。入射波以某一入射角入射到第二介质为固体的异质平面界面上时,将发生()。透射波将分离为折射
- 超声波的衰减主要取决于()、()、()等。兰姆波是指介质中质点产生相应的横向和纵向两种振动的合成,使质点作()的振动和传播。半波透声层指的是使耦合层厚度为其半波长的()。斜探头的斜楔一般采用有机玻璃的
- ()是指超声波在介质中传播时,由于介质的粘滞性而造成质点之间的内摩擦,从而一部分声能变成热能,导致声能的损耗。下列不属于探头的性能指标有()。在切装胶片时,胶片与胶片、胶片与某些物体发生摩擦而产生静电使胶
- 为减小超声波通过介质量的衰减,宜采用()进行探伤。当声程S≥6N(远场区)长度时,反射体的定量结果()。调节探伤仪的()旋钮可以控制或改变仪器灵敏度。透过观片灯窗口的光照度为50000lx,若透过底片的光强不少于50
- 半波透声层是指使耦合层厚度为其半波长的()。探头中压电材料的作用是()。能用磁粉探伤检出的缺陷是()。整数倍将电能转换为机械能或将机械能转换成电能#
产生衰减
吸收超声波
产生同步电信号钢材内部埋藏100mm
- 近场区声波干涉现象最严重,因此近场区也称(),干涉现象对探伤有很大影响,探伤时要尽量避免。超声波从声阻抗Za的介质透过声阻抗Zb的介质进入声阻抗Zc的介质,若下述等式成立,则透声效果较佳的是()。下面关于磁导率
- 将波动分为()。斜探头的楔块应采用纵波声速比被检工件横波声速小的材料制成,形成()在工件中传播。Χ射线、γ射线和α粒子有一个共同点,即它们都是()。下列有关漏磁通的叙述正确的是()。关于重型B地中海贫血,下
- 在X≥3N的距离上,当孔径不变,声程增加一倍时,大平底的反射声压为原来的()。胶片对比度与黑度D成正比,适用于()。除非另有规定,最终磁粉探伤()。1/2倍非增感型胶片#
增感型胶片
A和B
A和B均不适用应在最终热处理
- ()是指探伤仪的主要性能指标。下列各项中与描述辐射防护最优化原则相关的是()。水平线性避免一切不必要的照射#
尽量减少受到的照射
危害应低于得到的利益
A、B和C
- 横波是指波的()与()的一种波动类型,它只能在固体介质中传播。下列方程式中()为振动方程。换能器声压波动区域的长度主要取决于换能器的()。长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。高能射
- ()和()是产生波动的条件。入射波以某一入射角入射到第二介质为固体的异质平面界面上时,将发生()。透射波将分离为折射纵波和/或折射横波。假定某γ放射源的衰变常数λ=0.021/年,则其半衰期为()。当射线能量范围
- 超声波探测气孔时,反射波不变,这是因为气孔通常是()的,其反射波是()的。在中子照相中需要使用转换屏,它在接受中子照射后能放出()辐射而使X射线胶片感光。胶片对比度与黑度D成正比,适用于()。在显影操作开始
- 接触法探伤中,若一个斜探头在钢中产生(),则该探头在铝中产生的切变波角度()。焊缝中的裂纹缺陷一般用()与未焊透相区别。45°切变波;小于45°A、左右移动
B、前后移动
C、定点转动#
D、以上都是
- 超声波远场区的声压以()。实际探伤中,所用X射线束是()。按表面张力系数大小排列水、苯、酒精、醚的顺序是()。A、旁声束上声压最高
B、半扩散角以外的区域上声压最高
C、中心轴线上声压最高#
D、扩散角与旁声束
- 声波远场区中心轴线上的声压随着声程的增加而()。下降
- 压缩波能在()传播。试件中剩余磁场强度的大小取决于()。液体中试件长度与直径之比
施加的磁场强度#
右手定则
左手定则
- 超声波检测中,横波探伤常用于()和()探伤。选择K值的经验公式为()。管子的超声波探伤槽形参考标准应把槽加工在管子的()。钴60γ放射源的原子核中有()。“光电效应”的光子能量按()形式被吸收。源在外的双壁
- 横波入射时使同介质中的纵波反射角等于()时的横波入射角称为()。若有效焦点是2.5mm×2.5mm,则实际焦点是()。磁悬液中的磁粉浓度()测量。检验玻璃时,为了发现非常细小的裂纹应采用()。90°;第三临界角圆形的
- 切变波只能在()传播。焊缝金属二次结晶的组织和性能与焊缝的()无关。平面波是指波源为一无限大平面声源,任意时刻的波阵面为与声源()的平面。晶片直径相同的超声波探头,频率高的其声束扩散角()。下列压电晶体
- 盲区是指探头的()。超声波从声阻抗Z1的介质通过声阻抗Z2的薄层介质向声阻抗Z3的介质透入时,为了得到良好的透声效果,应当使薄层厚度等于1/4波长的奇数倍,并且其声阻抗Z2=()。“光电效应”的光子能量按()形式被吸
- 具有正压电效应和逆压电效应的晶体称为()。它是超声检测中最常采用的一种()。防止焊瘤的措施有()。材料晶粒尺寸大于()波长时,超声波的散射会影响检验结果。胶片特性曲线上两个特定黑度点的()是对比度的平
- 相同直径的探头其工作频率高的()。用sinθ=1.22λ/D公式计算的指向角是声束边缘声压p1与声束中心声压p0之比等于()的指向角。斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为()。某
- 当S≤3N时,反射体的定量结果与实际当量尺寸()。原子的组成部分为()。采用浸入法施加渗透液时,浸入零件前加热渗透液()。A、略大于实际尺寸
B、略小于实际尺寸
C、没有误差
D、有较大误差#质子、电子、中子#
质子
- 超声波垂直入射到某界面,如第一介质声阻抗远大于第二介质声阻抗,则声压反射率趋于(),透过率趋于()。弯曲试验可以考核试样的多项性能,包括检测焊缝致密性,以及()。当瑞利波深度达到(),其振幅将降至最大振幅的
- 声束集中向一个方向辐射的性质叫做()。按照危险度与权重因子规定的剂量当量限值是对于()规定的。下列是渗透探伤中进行干燥处理的一个目的的是()。声束的指向性躯体效应
远期效应
随机效应#
非随机效应保证多余
- 波在传播过程中,若遇到障碍物或其他不连续的情况,而使波阵面发生畸变的现象称为()。脉冲波是指振动持续时间()的波动。假定某γ放射源的衰变常数λ=0.021/年,则其半衰期为()。为提高观片效果,观片室环境亮度()
- ()是由于在探测衰减小的材料时,使用过高的重复频率,在检查大锻件时容易出现的情况。一个2.25MHz在水中近场长度等于58.6mm的直探头,其半扩散角度大约是()。晶片直径相同的超声波探头,频率高的其声束扩散角()。
- 当S≤1.64N的区域属于超声波的()。长轴类锻件从端面作轴向探测时,容易出现的非缺陷回波是()。设入射线强度为I0,透过射线强度为I,散射线强度为Is,则散射比n定义为()。胶片特性曲线上两个特定黑度点的直线斜率是
- 超声波仪器中的底波衰减旋钮可用来()。下列各项中描述随机效应特点的是()。监视工件底波变化效应的发生率与剂量无关#
剂量越大效应越严重
只要限制剂量就可以限制效应的发生
A、B和C
- 晶体的电极上施加高频交变电压时,晶体按电压的交变频率和大小在厚度方向上相应的伸长或缩短,产生机械振动,从而辐射出高频声波,这种现象称为()。防止焊瘤的措施有()。采用底波高度法(F/B百分比法)对缺陷定量时,
- 超声波在传播过程中,遇到障碍物或其他不连续的情况,会产生()、()和()等现象。兰姆波是指介质中质点产生相应的横向和纵向两种振动的合成,使质点作()的振动和传播。频率为2.5MHz、圆晶片直径为20㎜探头表示为
- 介质中质点产生相应的横向和纵向两种振动的合成,质点作椭圆轨迹的振动和传播称为()。结晶应力与拘束应力的影响在脆性温度区内,金属的强度极低,焊接应力使这部分金属(),达到一定程度时,就会出现结晶裂纹。X射线工
- 在钢中测定为某一折射角的(),在铝中测定时其()。斜探头的斜楔一般采用有机玻璃的材料制成,它的主要功能是将(),并按给定的折射角将横波透入试件。()会使黑光灯泡的寿命降低。斜探头;折射角变小纵波转换为横
- 根据()和()进行缺陷定量时,回波高度的测量应在仪器的()以及()的状态下进行。频率为2.5MHz、圆晶片直径为20㎜探头表示为()。回波高度;声场反射规律;抑制旋钮关闭;增益微调旋钮不动2.5PB20Z#
5PFG25F20
2
- 在固体介质中,曝光时间40s,可以得到理想的射线底片,若用5mA管电流得到同样黑度的底片,需要的曝光时间是()。在X射线照相中使用相纸技术时,其黑度的测量是采用()。射线通过胶片时,能在胶片上激发出自由电子,这些散
- 声速按不同情况,可分为()和()。一次结晶过程中。由于冷却速度快,会产生化学成份分布不均匀现象,这种现象称为()。在钢板表面传播的超声波称为()。使用γ射线或高能Χ射线透照厚工件时,胶片类型和胶片()的选择
- ()是指透射波转换成为与入射波不同的波型。超声波探伤中广泛采用的是()。K值为焊缝的透照厚度比,纵缝的AB级的K值不大于()。漏磁场强度与下列()有关。波型转换脉冲波#
电磁波
方波
爬波1.0
0.06
1.03#
1.01磁
- 超声波通过异质薄层时,声压反射率和透过率不仅与()和()有关,而且与()与()有关。一般情况下,射线胶片固有不清晰度大小随着射线()的变化而增大。下列有关磁粉探伤用的设备装置的叙述,()是正确的。介质声阻