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  • 波长相同的X射线和γ射线具有()的性质。

    波长相同的X射线和γ射线具有()的性质。用sinθ=1.22λ/D公式计算的指向角是声束边缘声压p1与声束中心声压p0之比等于()的指向角。在双胶片技术中按照感光度高低的胶片的曝光曲线选取感光度高的胶片后,应按照曝光曲
  • 射线胶片中的溴化银微粒银的正离子失去电子,使曝光的胶片中形成

    射线胶片中的溴化银微粒银的正离子失去电子,使曝光的胶片中形成所谓的“()”。材料的加工工艺性能包括()。对多个工件一次透照时,应注意的防护散射线的措施是()。潜影冷热加工成型性能和焊接性能# 短面收缩率 试
  • 铅箔增感屏之所以有增感作用,是因为X射线与γ射线能从铅中激发出

    铅箔增感屏之所以有增感作用,是因为X射线与γ射线能从铅中激发出()来,从而使胶片感光,达到增感的目的。下列()具有多种不同的波速。未曝光的AgBr在显影液中不被还原的原因是()。电子A、纵波 B、切变波 C、横波 D
  • 光子能量大于1.02MeV时,生成()。

    光子能量大于1.02MeV时,生成()。入射角达到第二临界角时,会发生()。原子核的正电荷数等于()。采用中子照相法时,其曝光需要先经过转换屏转换,然后()。电子对效应表面波全反射 切变波45°折射 切变波35°折射 以
  • 光子能量的增大而光电效应()。

    光子能量的增大而光电效应()。与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是()。同位素就是原子序数相同,()不同的一种元素。在中子照相中需要使用转换屏,它在接受中子照射后能放出()辐射而使X射线胶片感光
  • 电磁波波长的数字计算式为()。

    电磁波波长的数字计算式为()。下列()具有多种不同的波速。波阵面是指波在弹性介质中传播时,同一时刻介质中振动相位()的所有各点的轨迹。λ=C/vA、纵波 B、切变波 C、横波 D、兰姆波#垂直 平行 相同# 相反
  • 几何不清晰度的数学表达式为:()。

    几何不清晰度的数学表达式为:()。超声波从一种介质倾斜入射到平界面时,将产生反射纵波,由于波型转换,又会产生()。如果介质是连续分布的,则其中任何一点的振动将引起相邻各点的振动,因而在波动中任何一点都可看
  • 对于相同物体,易于透过的X射线其线质硬,硬X射线比软X射线的(

    对于相同物体,易于透过的X射线其线质硬,硬X射线比软X射线的(),(),()。下列方程式中()为振动方程。未经曝光而直接进行暗室处理后所得底片黑度称为()。X射线管真空度不良会造成()。波长短;衰减系数小;半
  • 在X射线照相中使用滤波板可以提高底片的()和()。

    在X射线照相中使用滤波板可以提高底片的()和()。远场区是指远离探头,随着()的增加,声压单调下降的区域。在酸性坚膜定影液中会有相互分解的成分,大苏打要靠()才能共存。清晰度;宽容度探头的晶片面积 距探头
  • 如果焊缝的焊冠较高或者厚度差较大,为使焊缝及其热影响区的黑度

    如果焊缝的焊冠较高或者厚度差较大,为使焊缝及其热影响区的黑度均在规定的范围内,也可适当()。声波远场区的声压以中心轴线上为最高,而中心轴线上的声压()。提高射线能量随着声程的增加而下降# 随着声程的增加而
  • 当光子经过康普顿效应后,通常要产生()。

    当光子经过康普顿效应后,通常要产生()。焊缝金属的二次结晶的组织和性能与()有关。非增感型胶片适于与()一起使用。下面关于磁导率的叙述中,正确的是()。乳化剂的()愈低则亲油性愈强。二次射线焊缝的淬透性
  • 某给定物质对连续X射线而言,其线衰减系数随物质厚度的增加而(

    某给定物质对连续X射线而言,其线衰减系数随物质厚度的增加而()。沸腾钢,浇注前末作()处理。高能射线是能量在()兆电子伏特以上的X射线。透照厚度差变化较大的工件时,为了降低对比度、增大宽容度,最好的方法是(
  • 半衰期就是某一元素的原子核经衰变至()。

    半衰期就是某一元素的原子核经衰变至()。10Ci钴60γ射线源衰减到1.25Ci,需要的时间约为()。其原有原子核总数一半所需的时间5年 1年 16年# 21年
  • X射线和γ射线都是电磁辐射,而()不是电磁辐射。

    X射线和γ射线都是电磁辐射,而()不是电磁辐射。对于大多数固体和金属介质来说,通常所说的超声波衰减仅包括()而不包括扩散衰减。()Qm较小能获得较高的分辨力和较小的盲区。有关退磁的叙述,正确的是()。中子射
  • 电子与质子的电荷基本(),符号()。

    电子与质子的电荷基本(),符号()。焊缝超声波检测中最常用的超声波波型是()。AVG曲线也叫(),描述了距离、波幅增益量和缺陷当量尺寸三者之间的关系。底片黑度公式D=LgLo/L,其中()。下列是渗透探伤中进行干燥
  • X射线本身不带任何电性,不受()、()的影响。

    X射线本身不带任何电性,不受()、()的影响。电场;磁场
  • X射线与γ都属于()。

    其指向角()。采用底波高度法(F/B百分比法)对缺陷定量时,下面说法正确的是()。当管电压为一定值时,增大管电流,则连续X射线的线质强度和波长将发生()。零件经过打磨、磨削或火焰去除缺陷后,下一步应当()。CS
  • 光电效应中光子被()。

    光电效应中光子被()。检测筒状工件(r/D<86%=时,选择()。底片的黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积,该反比定律在()下失效。冲洗条纹表现为模糊的条纹状影像,它是射线照片上的伪缺陷之一,其主要产生原因是(
  • 对于γ、X射线,其剂量当量中的线质系数值为()。

    对于γ、X射线,其剂量当量中的线质系数值为()。Z1≠Z2≠Z3时,要使Z3有较高的透声效果,Z3厚度应为()。波阵面中波的()称为波线。()曲线是给定X射线机在选定工艺条件下制作的。在双胶片技术中按照感光度高低的胶片
  • 使所透过的射线强度减半所需的某物质厚度称为该物质对该射线的(

    通常以有效输出表示,下述哪一项不正确()半值厚度R/h•ci R/m•s•ci m•R/h•ci# R/m•h•ci(注:1ci=3.7*1010Bg)透过射线强度加强 曝光光子能量增大 经常熔断电源保险丝化# A、B和C3~12个月开始出现贫血 有特殊面容
  • 放射性同位素衰变时,同位素的原子核是以()和()蜕变的。

    放射性同位素衰变时,同位素的原子核是以()和()蜕变的。用板波法探测薄钢板时,()把荧光屏上的反射波区分出是内部缺陷还是表面缺陷。粒子发射;K俘获方式能 不能# 有时能 观察不到表面缺陷波
  • 半价层的大小与()有关。

    半价层的大小与()有关。X射线管真空度不良会造成()。荧光磁粉探伤中,便携式黑光灯中常用的汞气灯泡的功率为()。管电流透过射线强度加强 曝光光子能量增大 经常熔断电源保险丝化# A、B和C200W 50W 100W# 75W
  • 因为发生光电效应后光子即消失了,所以光电效应也叫()。

    因为发生光电效应后光子即消失了,所以光电效应也叫()。原子的组成部分为()。金属增感屏能起增感作用,是由于增感屏受射线照射时()。光电吸收质子、电子、中子# 质子、电子、γ射线 光子、电子、中子 原子、质子
  • “同位素”指的是(),()的元素。

    “同位素”指的是(),()的元素。()会使黑光灯泡的寿命降低。质子数相同;中子数不同电源电压波动很大# 灯泡上有灰尘 室温变化 A、B和C
  • 斜探头探伤时,若条件允许,应在焊缝上下两侧表面进行()。

    斜探头探伤时,若条件允许,应在焊缝上下两侧表面进行()。不锈钢堆焊层比基材钢的声阻抗大2%,在两者界面上的声压反射率为()。一般来说,对仪器的衰减器精度要求是任意相邻12dB误差()。在吸收剂量相同的情况下,(
  • 直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的

    直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。工程中许多构件在工作时出现随时间而交替变化的应力,这种应力称为()。工业用X光机的X射线管多用钨作靶材料,这首先是因为钨的
  • 锻件中非金属夹杂物的取向一般是()时的变形方向。

    锻件中非金属夹杂物的取向一般是()时的变形方向。接触法斜角探伤时,如果入射角达到第二临界角,会发生()。声压是指声波在传播过程中,介质某一点的()超过没有声波存在时的静态压强的量值。平行于锻造横波全反射
  • 缺陷波幅在Ⅲ区的缺陷需要返修,测长后画出(),便于返修。

    缺陷波幅在Ⅲ区的缺陷需要返修,测长后画出(),便于返修。采用水浸法探伤时,根据()产生的回波情况进行缺陷评定。磁粉探伤时,对试件施加适当的磁场强度值应该是()。缺陷的部位第一次表面回波之前和第二次表面回波
  • 原子核内的()和()的质量基本相等。

    原子核内的()和()的质量基本相等。与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是()。X射线和γ射线的共同点是()。10Ci钴60γ射线源衰减到1.25Ci,需要的时间约为()。()会影响渗透剂迹痕的分辨率。质子;中
  • 超声波在某一角度范围内集中辐射的性质称为()。

    超声波在某一角度范围内集中辐射的性质称为()。透照厚度差变化较大的工件时,为了降低对比度、增大宽容度,最好的方法是()。显影液中不可缺少的药品是()。增感屏厚度增加会引起()。下列有关漏磁通的叙述正确的
  • 与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探伤方法是()探伤。

    与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探伤方法是()探伤。焊缝金属的二次结晶的组织和性能与()有关。波阵面是指波在弹性介质中传播时,同一时刻介质中振动相位()的所有各点的轨迹。惠更斯原理是介质中波动传到的
  • 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的

    斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而()。材料的加工工艺性能包括()。JB1152-81标准规定,斜探头K值的测定应在声场的()。探头内()的主要作
  • 焊缝中的裂纹缺陷一般用()与未焊透相区别。

    焊缝中的裂纹缺陷一般用()与未焊透相区别。手持电极法磁粉探伤使用的安培数依据()确定。A、左右移动 B、前后移动 C、定点转动# D、以上都是A、材料类型 B、电极间的距离# C、零件长度 D、零件直径
  • 用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果()

    用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果()。与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是()。()会影响渗透剂迹痕的分辨率。越差回波幅度与底面反射波高度相差不大 底面反射完全消失 缺陷反
  • 直探头对长形工件探伤时,由于声束扩散,一部分能量打在工件侧面

    直探头对长形工件探伤时,由于声束扩散,一部分能量打在工件侧面转换为(),经过几次波型转换后,要比单按纵波垂直反射回波时间滞后。所以称为()。高能射线是能量在()兆电子伏特以上的X射线。不适宜采用水洗性渗透
  • 在手工探伤中一般使用直接接触法而不使用()。原因是液浸法手工

    在手工探伤中一般使用直接接触法而不使用()。原因是液浸法手工探伤时难以保持稳定;直接接触法探伤,方法简单、使用方便。除了属于正应力范畴的拉应力和压应力外,应力分析中还会遇到()。检测厚钢板采用垂直法探伤
  • 衰减器大小的变化会影响仪器的()。

    衰减器大小的变化会影响仪器的()。结晶应力与拘束应力的影响在脆性温度区内,金属的强度极低,焊接应力使这部分金属(),达到一定程度时,就会出现结晶裂纹。在压电晶体的电极上施加高频交变电压时,晶体按电压的交变
  • K值是指斜探头折射角的()。

    K值是指斜探头折射角的()。低能射线以()为主。原子核的()等于质子数。美国ASTM、ASME透度计2-1T号的等效灵敏度为()。正切值光电效应# 康普顿效应 电子对生成效应 以上都对光子数 正电荷数# 中子数+电子数 以
  • 超声波探伤中常用的换能器是利用()产生超声波的。

    超声波探伤中常用的换能器是利用()产生超声波的。X射线与γ射线的区别是()。()用湿法荧光磁粉探伤进行检验比干法好。压电效应穿透能力不同 强度不同 产生机理不同# A、B和C零件大而笨重时 需要提高检验速度和灵
  • 探头指向角是晶片尺寸和介质中波长的()。它随频率的增加、晶片

    探头指向角是晶片尺寸和介质中波长的()。它随频率的增加、晶片直径的减小而()。探头匹配了阻尼块以后,使始脉冲变窄,盲区变小,分辨力()。在双胶片技术中按照感光度高低的胶片的曝光曲线选取感光度高的胶片后,应
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