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- （）是指探伤仪荧光屏上反射波高从满幅降至消失时,仪器衰减器的变化范围。探测距离
动态范围#
垂直线性
水平线性
- （）受接收放大电路的影响。一对大小相等,方向相反的力偶作用在构件两端,会在构件上产生（）。AVG曲线中,以距离作为横坐标,以（）作为纵坐标。设宽束X射线贯穿物体后,在某一点所接收到的射线总强度为Ip=I+Is,则散射
- 不会影响仪器垂直线性的旋钮有（）。在选用透照参数时,曝光量应（）。底片黑度公式D=LgLo/L,其中（）。X射线管真空度不良会造成（）。采用湿式连续法时,来自软管的磁悬液应在（）。软性金属经过机加工后采用（）前清
- 水平线性的好坏影响缺陷（）的精度。材料的加工工艺性能包括（）。垂直入射时,若Z1≈Z2（即两种声阻抗接近的介质界面）声压透射率约为（）。一般来说,对仪器的衰减器精度要求是任意相邻12dB误差（）。探头晶片尺寸越
- （）是指探伤仪水平扫描速度的均匀程度,即扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比的程度。未经曝光而直接进行暗室处理后所得底片黑度称为（）。滤光片是高原子序数金属（如铜、钢、铅）制成,其作用是（）。水平
- 影响仪器（）的旋钮有发射强度和增益旋钮、衰减器抑制旋钮、深度补偿旋钮等。频率为2.5MHz、圆晶片直径为20㎜探头表示为（）。一般来说,对仪器的衰减器精度要求是任意相邻12dB误差（）。同位素就是原子序数相同,（）
- 使用抑制开关主要是为了（）。X射线管真空度不良会造成（）。采用湿式连续法时,来自软管的磁悬液应在（）。降低杂波量#
提高灵敏度
延长扫查范围
提高探伤速度透过射线强度加强
曝光光子能量增大
经常熔断电源保险丝
- 频率为2.5MHz、圆晶片直径为20㎜探头表示为（）。半波透声层指的是使耦合层厚度为其半波长的（）。胶片特性曲线上两个特定黑度点的（）是对比度的平均梯度。2.5PB20Z#
5PFG25F20
2.5P20×20Z
5Pφ25FG20整数倍#
奇数倍
- 将一台仪器与一个参考标准比较的过程叫（）。结晶应力与拘束应力的影响在脆性温度区内,金属的强度极低,焊接应力使这部分金属（）,达到一定程度时,就会出现结晶裂纹。（）Qm较小能获得较高的分辨力和较小的盲区。X光
- 晶片直径相同的超声波探头,频率高的其声束扩散角（）。变大
变小#
不变
A、B和C
- 下列不能表示5P6×6K2探头参数的是（）。斜探头的楔块应采用纵波声速比被检工件横波声速小的材料制成,它的功能是将纵波按给定的入射角斜射到工件表面,在界面发生折射,形成（）在工件中传播。在（）中,光子以全部能量
- 探头中压电材料的作用是（）。介质中质点产生相应的（）,使质点作椭圆轨迹的振动和传播叫兰姆波。X射线与γ射线的区别是（）。检验玻璃时,为了发现非常细小的裂纹应采用（）。将电能转换为机械能或将机械能转换成电能
- 某些单晶体或多晶体陶瓷材料在应力作用下产生应变时引起晶体电荷的不对称分配,异种电荷向正反两面集中,材料的晶体就产生电场和极化。这种效应称为（）。当超声波由水以20°入射角射到钢界面时,则在钢中横波折射角为（
- 探头匹配了阻尼块以后,使始脉冲变窄,盲区变小,分辨力（）。焊缝探伤中探头角度选择的主要依据是（）。X射线机按（）分类可分为：便携式、固定式、移动式。磁粉探伤中,最好是（）。下面关于渗透探伤的零件上污染材料
- 探头内（）的主要作用是防止产生杂波、使脉冲变窄、使盲区变小。用板波法探测薄钢板时,（）把荧光屏上的反射波区分出是内部缺陷还是表面缺陷。胶片的固有不清晰度会随（）的增大而增大。磁粉探伤前不允许用（）去除
- 斜探头的斜楔一般采用有机玻璃的材料制成,它的主要功能是将（）,并按给定的折射角将横波透入试件。声压是指声波在传播过程中,介质某一点的（）超过没有声波存在时的静态压强的量值。钨增感屏的优点是（）。磁粉探伤
- 直探头组成的主要元件有（）等。探头晶片尺寸越大,其指向角（）。对Χ射线和γ射线防护而言,由于有关修正因数为1,可以认为（）。压电晶片、电极层
吸收块
保护膜、外壳
A、B和C#越大
越小#
不变
以上都不对吸收剂量大
- A型显示是指探头接收到的信号幅度和超声波的传播时间以（）表示的显示方式。直角坐标形式#
统计表形式
图像形式
以上都不对
- 脉冲反射式超声波探伤仪中,协调各部分功能和时间的部件叫做（）。发射电路
接收电路
显示电路
同步电路#
- 声压是指声波在传播过程中,介质某一点的（）超过没有声波存在时的静态压强的量值。通常所指的金属材料的性能是（）。频率为2.5MHz、圆晶片直径为20㎜探头表示为（）。电磁波波长的数学计算式为（）。声场
声压强#
声
- 超声波从声阻抗Z1的介质通过声阻抗Z2的薄层介质向声阻抗Z3的介质透入时,为了得到良好的透声效果,应当使薄层厚度等于1/4波长的奇数倍,并且其声阻抗Z2=（）。在有底波出现的直探头探伤中,要使Z3有较高的透声效果,Z3厚
- （）的特征量通常用声压、声强、声阻抗等来描述的。超声波探伤中广泛采用的是（）。（）d33较大,可获得较高的发射灵敏度。为提高观片效果,观片室的环境应尽可能地（）。退磁的零件应从磁场中沿直线退出（）。干粉法
- （）是指声波在传播过程中,介质某一点的声压强超过没有声波存在时的静态压强的量值。直径25mm,频率5MHz的直探头在水中的近场长度约为（）。与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。射线透过物质时,电子
- 超声波在传播过程中如果遇到一个障碍物,就可能产生（）等现象。下面有关“叠加效应”的叙述中,正确的是（）。管材水浸法探伤中偏心距x与入射角α的关系是（）。（r、R为管材内、外半径）10Ci钴60γ射线源衰减到1.25Ci,需
- 声波可绕过障碍物的边缘不按原来的方向而折向障碍物后面传播,即所谓（）。入射波以某一入射角入射到第二介质为固体的异质平面界面上时,将发生（）。透射波将分离为折射纵波和/或折射横波。探头中压电材料的作用是（
- 惠更斯原理是介质中波动传到的任意一点都可看作为发射子波的波源,在其后的每一时刻,这些子波的（）就形成了一个新的波阵面检测筒状工件（r/D＜86%＝时,选择（）。探头晶片尺寸越大,其指向角（）。实际探伤中,所用X射
- 惠更斯原理在（）中获得了广泛的应用。当声程S≥6N（远场区）长度时,反射体的定量结果（）。当横波入射到平面缺陷时,会产生（）现象,这与横波的入射角有关。钨增感屏的优点是（）。能用磁粉探伤检出的缺陷是（）。超
- （）是指同一时刻,介质中振动相位的所有质点所联成的面。。下列方程式中（）为振动方程。脉冲反射式超声波探伤仪中,协调各部分功能和时间的部件叫做（）。探头内（）的主要作用是防止产生杂波、使脉冲变窄、使盲区变
- 如果介质是连续分布的,则其中任何一点的振动将引起相邻各点的振动,因而在波动中任何一点都可看成一个新的（）。这种现象属于惠更斯原理的范畴。当瑞利波深度达到（）,其振幅将降至最大振幅的0.37倍。当超声波由水以2
- 实际声场的近场区长度基本同理想声场,这是因为（）。超声波在第二种介质折射波的传播方向不同于入射波的方向,而是按（）来确定的。用sinθ=1.22λ/D公式计算的指向角是声束边缘声压p1与声束中心声压p0之比等于（）的指
- 常用的超声波脉冲是有多种频率成分的正弦波（）而成的机械波。超声波从一种介质倾斜入射到平界面时,将产生反射纵波,由于波型转换,又会产生（）。将一台仪器与一个参考标准比较的过程叫（）。叠加#
复合
递减
平行声
- 下面有关“叠加效应”的叙述中,正确的是（）。下列压电晶体中（）用做高频探头较为适宜。X射线与γ射线的区别是（）。叠加效应是波型转换时产生的现象
叠加效应是幻像波的一种
叠加效应是钢板底波次数较多时可看到的现
- 波阵面中波的（）称为波线。在压电晶体的电极上施加高频交变电压时,晶体按电压的交变频率和大小在厚度方向上相应地伸长或缩短,产生（）,从而辐射出高频声波,这种现象称为逆压电效应。放射性同位素60Co中的60叫做质量
- 柱面波是指波源为一无限长柱体,任意时刻的波阵面为一（）。垂直入射时,若Z1≈Z2（即两种声阻抗接近的介质界面）声压透射率约为（）。如果介质是连续分布的,则其中任何一点的振动将引起相邻各点的振动,因而在波动中任
- 波阵面是指波在弹性介质中传播时,同一时刻介质中振动相位（）的所有各点的轨迹。探头中压电材料的作用是（）。（）是指探伤仪水平扫描速度的均匀程度,即扫描线上显示的反射波距离与反射体距离成正比的程度。用电磁铁
- 平面波是指波源为一无限大平面声源,任意时刻的波阵面为与声源（）的平面。波阵面中波的（）称为波线。一般来说探头指向角越小,主声束越窄,从而可以提高对缺陷的（）和准确判断缺陷的位置。γ射线的波长仅决定于（）。
- 球面波是指波源为一（）,任意时刻的波阵面为一同心圆球面。液体中能传播的超声波波形有（）。为提高观片效果,观片室环境亮度（）。试件表面为中等粗糙,但要求检测的灵敏度较高,（）的渗透探伤材料较佳。斜面
无限长
- 一对大小相等,方向相反的力偶作用在构件两端,会在构件上产生（）。在X射线谱图上,当射线管中的电子能量达到足以将靶原子核内层电子击出轨道时,则谱图上出现（）。拉应力
压应力
弯曲应力#
剪应力连续X射线谱形
特征X
- JB1152-81标准规定,斜探头K值的测定应在声场的（）。1.67N以外进行
N以外进行
2N以外进行#
3N以外进行
- 压力容器使用材料的要求是（）。当超声波由水以20°入射角射到钢界面时,则在钢中横波折射角为（）。设宽束X射线贯穿物体后,在某一点所接收到的射线总强度为Ip=I+Is,则散射比为（）。零件经过打磨、磨削或火焰去除缺陷
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