正确答案: A

A、增加

题目：探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面探伤不利。

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[单选题]影响超声耦合的主要因素有（）。

D、上述都包括

[单选题]能使探头或试验材料自动移动而进行的扫查方法叫（）。

自动扫查