正确答案:

题目：X荧光分析基体的影响可分两大类，一类是（）引起的，另一类是（），表面结构等造成的。

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[单选题]在原子吸收分光光度计中所用的检测器是（）

光电管倍增管

[单选题]在原子发射光谱摄谱法定性分析时采用哈特曼光阑是为了（）。

防止板移时谱线产生位移