正确答案: D

较易检出微小的缺陷

题目：一般来说，荧光渗透法比着色渗透法的优越之处是（）。

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[单选题]被检工件晶粒粗大，通常会引起：（）

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[单选题]与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）

双斜探头前后串列法