正确答案: A

刻蚀速率

题目:()是测量在刻蚀过程中物质被移除的速率有多快的一种参数。

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  • [单选题]在靶片前方设一抑制栅,作用是将()抑制回去,从而保证测量的准确性。
  • 二次电子


  • [单选题]()就是用功率密度很高的激光束照射半导体表面,使其中离子注入层在极短的时间内达到高温,消除损伤。
  • 激光退火


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