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探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面探伤不利。

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    表面粗糙度、主要因素(main factors)、声阻抗(acoustic impedance)、近场区长度(s near-zone length)

  • [单选题]探头晶片尺寸(),近场区长度(s near-zone length)增加,对近表面探伤不利。

  • A. A、增加
    B. B、减小
    C. C、不变

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  • 学习资料:
  • [单选题]影响超声耦合的主要因素有()。
  • A. A、耦合层的厚度
    B. B、耦合剂声阻抗
    C. C、工件表面粗糙度
    D. D、上述都包括

  • [单选题]能使探头或试验材料自动移动而进行的扫查方法叫()。
  • A. 交叉扫查
    B. 摆动扫查
    C. 前后扫查
    D. 自动扫查

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