材料科学题库2022材料分析测试技术题库专项练习每日一练(04月18日)

1. [单选题]用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）

A. X射线透射学；
B. X射线衍射学；
C. X射线光谱学

2. [单选题]德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。

A. 正装法；
B. 反装法；
C. 偏装法；
D. A+B。

3. [单选题]薄片状晶体的倒易点形状是（）。

A. 尺寸很小的倒易点；
B. 尺寸很大的球；
C. 有一定长度的倒易杆；
D. 倒易圆盘。

4. [单选题]由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（）

A. A、球差
B. B、像散
C. C、色差
D. D、背散

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