半导体式应变片在外力作用下引起其电阻变化的因素主要是（）。

【名词&注释】

半导体(semiconductor)、电阻率(resistivity)、频率特性(frequency characteristic)、外力作用(exogenous process)、压电式加速度计(piezoelectric accelerometer)、力学系统(mechanical system)、电路时间常数(circuit time constant)

[填空题]半导体式应变片在外力作用下引起其电阻变化的因素主要是（）。

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学习资料：

[单选题]压电式加速度计测量系统的工作频率下限取决于（）。

A. 加速度计力学系统^{(mechanical system)}的频率特性
B. 压电晶体的电路特性
C. 测量电路时间常数^{(circuit time constant)}
D. 以上都不正确

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