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二氧化硅薄膜的折射率是表征其()学性质的重要参数。

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    光刻胶、单晶硅(single crystal silicon)、折射率(refractive index)、氟化氢(hydrogen fluoride)、多晶硅(polysilicon)、氮化硅(silicon nitride)、媒介物(vehicle)

  • [单选题]二氧化硅薄膜的折射率是表征其()学性质的重要参数。

  • A. 电
    B. 磁
    C. 光
    D. 热

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  • [单选题]单晶硅刻蚀一般采用()做掩蔽层,以氟化氢为主要的刻蚀剂,氧气为侧壁钝化作用的媒介物(vehicle)
  • A. 氮化硅(silicon nitride)
    B. 二氧化硅
    C. 光刻胶
    D. 多晶硅

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