X荧光分析基体的影响可分两大类，一类是（）引起的，另一类是（

【名词&注释】

化学成分(chemical constituents)、定性分析(qualitative analysis)、检测器(detector)、谱线宽度(line width)、光电管、哈特曼光阑(hartmann diaphragm)、原子发射光谱(atomic emission spectrometry)

[填空题]X荧光分析基体的影响可分两大类，一类是（）引起的，另一类是（），表面结构等造成的。

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学习资料：

[单选题]在原子吸收分光光度计中所用的检测器是（）

A. 吸光电池
B. 光敏电池
C. 光电管倍增管
D. 光电管

[单选题]在原子发射光谱^{(atomic emission spectrometry)}摄谱法定性分析时采用哈特曼光阑^{(hartmann diaphragm)}是为了（）。

A. 控制谱带高度
B. 同时摄下三条铁光谱作波长参比
C. 防止板移时谱线产生位移
D. 控制谱线宽度

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