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一块半导体寿命τ=15µs,光照在材料中会产生非平衡载流子,光照突

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    硫酸镁(magnesium sulfate)、钢绞线(steel strand)、硫酸亚铁(ferrous sulfate)、硫酸铝(aluminum sulfate)、多孔砖(porous brick)、载流子(carrier)、侵蚀作用(erosion)、烧结空心砖(sintered hollow block)、不低于(no less than)、冻融循环次数(cycle time of freeze-thaw)

  • [单选题]一块半导体寿命τ=15µs,光照在材料中会产生非平衡载流子,光照突然停止30µs后,其中非平衡载流子将衰减到原来的()。

  • A. A.1/4;B.1/e;C.1/e2;D.1/2

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  • 学习资料:
  • [单选题]砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中砖的泛霜试验,一般烧结普通砖用(),烧结多孔砖用(),烧结空心砖(sintered hollow block)用()进行试验。
  • A. A、整砖.1/2砖.1/4砖
    B. B、整砖.1/2砖.1/2砖
    C. C、整砖.整砖.1/2砖或1/4
    D. D、整砖.整砖.整砖

  • [多选题]以下关于砼拌合物维勃稠度值测定开始计时起点的说法,不正确的有()。
  • A. A、从水泥与水拌合接触的瞬间开始计时
    B. B、从拌合物捣实提筒的瞬间开始计时
    C. C、从拌合物开始装料的瞬间开始计时
    D. D、从开启振动台的同时开始计时

  • [多选题]以下()尺寸和形状的试件是砼抗折强度标准试件。
  • A. A、100×100×400mm棱柱体
    B. B、150×150×600mm棱柱体
    C. C、Φ150×300mm圆柱体
    D. D、150×150×550mm棱柱体

  • [多选题]关于砼抗冻等级含义的说法,正确的有()。
  • A. A、砼抗冻标号是通过快冻法来测定的
    B. B、砼抗冻标号是通过慢冻法来测定的
    C. C、砼抗冻标号以抗压强度损失率不超过25%或质量损失率不超过5%的最大冻融循环次数(cycle time of freeze-thaw)来确定
    D. D、砼抗冻标号以相对动弹性模量下降至不低于(no less than)60%或质量损失率不超过5%的最大冻融循环次数(cycle time of freeze-thaw)来确定

  • [多选题]实验中不允许断裂的有()
  • A. A、夹片
    B. B、镦头
    C. C、锚板
    D. D、钢绞线

  • [单选题]绝大部分硫酸盐对于硬化水泥浆体都有显著的侵蚀作用(erosion),只有()除外
  • A. A、硫酸钡
    B. B、硫酸亚铁
    C. C、硫酸镁
    D. D、硫酸铝

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