IIW试块主要用于测试和校验探伤仪的技术性能指标。

【名词&注释】

性能指标(performance index)、高频率(high frequency)、保护膜(protective film)、探伤仪(flaw detector)

[判断题]IIW试块主要用于测试和校验探伤仪^{(flaw detector)}的技术性能指标。

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学习资料：

[单选题]如果探测面毛糙，应该采用（）。

A. A、不太高频率的探头
B. B、较高频率的探头
C. C、硬保护膜探头
D. D、大晶片探头

[单选题]CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K（）的探头。

A. A、＞1.5
B. B、＞2
C. C、＞2.5
D. D、＞3

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