【名词&注释】
集成度(integration)、接触不良(bad contact)、中规模集成电路(medium scale integration)、晶体三极管(crystal triode)、半导体存储器(semiconductor memory)、输出特性曲线(output characteristic curve)、不正常、小规模集成电路(small scale integrated circuit)、特性曲线图(performance diagram)
[判断题]电池接触不良、功放与功控电路不正常及软件出错都可能造成手机掉话。
查看答案&解析
查看所有试题
学习资料:
[单选题]晶体三极管的输出特性曲线图(performance diagram)通常分成()工作区来分析三极管的工作状态。
A. A、1
B. B、2
C. C、3
D. D、4
[单选题]单局多站制移动通讯系统的系统容量().
A. 小于单局单站制系统
B. 大于单局单站制系统
C. 相当于单局单站制系统
D. 大于多局多站制系统
[单选题]按集成度划分,半导体存储器是属于()。
A. 小规模集成电路(small scale integrated circuit)
B. 中规模集成电路
C. 大规模集成电路
D. 超大规模集成电路
本文链接:https://www.51bdks.net/show/o6gezk.html