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用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的

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    百分表(indicating gauge)、内径千分尺(inside micrometer)、高度游标卡尺(height arm gauge)

  • [单选题]用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。

  • A. 球面干涉
    B. 等倾干涉
    C. 等厚干涉

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  • [单选题]深度百分表的示值误差不应大于()。
  • A. 10μm
    B. 12μm
    C. 14μm

  • [单选题]内径千分尺测头工作面的曲率半径应不大于其测量下限的()。
  • A. 30%
    B. 40%
    C. 50%

  • [单选题]高度游标卡尺的用途,除了测量高度外,还用于划线,划线用的量爪,其刃口原度为()。
  • A. (0.15±0.05)mm
    B. (0.10±0.05)mm
    C. (0.20±0.05)mm

  • [单选题]分度值为0.02mm的游标卡尺,其刻线宽度及宽度差是()。
  • A. (0.10-0.20)mm和0.05mm
    B. (0.08-0.12)mm和0.02mm
    C. (0.08-0.15)mm和0.03mm

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