根据（）和（）进行缺陷定量时，回波高度的测量应在仪器的（）以

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[填空题]根据（）和（）进行缺陷定量时，回波高度的测量应在仪器的（）以及（）的状态下进行。

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学习资料：

[单选题]频率为2.5MHz、圆晶片直径为20㎜探头表示为（）。

A. 2.5PB20Z
B. 5PFG25F20
C. 2.5P20×20Z
D. 5Pφ25FG20

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