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在半导体工艺中,淀积的薄膜层应满足的参数包含有()。

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    半导体(semiconductor)、离子注入(ion implantation)、砷化氢(arsine)、新一代(new generation)、纯净度(purity)、表面平整度(surface planeness)、氧化铬(chromium oxide)

  • [多选题]在半导体工艺中,淀积的薄膜层应满足的参数包含有()。

  • A. 均匀性
    B. 表面平整度(surface planeness)
    C. 自由应力
    D. 纯净度
    E. 电容

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  • 学习资料:
  • [单选题]奉献社会的实质是()。
  • A. 获得社会的好评
    B. 尽社会义务
    C. 不要回报的付出
    D. 为人民服务

  • [单选题]当二氧化硅膜很薄时,膜厚与时间()。
  • A. t2成正比
    B. t2成反比
    C. t成正比
    D. t成反比

  • [多选题]离子注入的主要气体源中,易燃、易爆的有()。
  • A. 砷化氢
    B. 二硼化氢
    C. 三氟化硼
    D. 硅烷
    E. 氧气

  • [单选题]在新一代的CMP中,有使用()磨料在金属表面上形成软质皮膜并加以去除的趋势。
  • A. 二氧化锰
    B. 铝
    C. 氧化铬(chromium oxide)
    D. 金刚石

  • [单选题]阳树脂用盐酸做再生液,浓度为()溶液可用原水配制。
  • A. 5%
    B. 10%
    C. 15%
    D. 20%

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