某化合物在一个具有固定狭峰位置和恒定磁场强度B的质谱仪中分析

【名词&注释】

负离子(anion)、准确度(accuracy)、半导体探测器(semiconductor detector)、缓冲液(buffer)、磁场强度(magnetic field intensity)、质谱仪(mass spectrometer)、正比计数器(proportional counter)、正离子(positive ion)

[单选题]某化合物在一个具有固定狭峰位置和恒定磁场强度B的质谱仪^{(mass spectrometer)}中分析，当加速电压V慢慢地增加时，则首先通过狭峰的是：（）

A. 质量最小的正离子^{(positive ion)}
B. 质量最大的负离子
C. 质荷比最低的正离子^{(positive ion)}
D. 质荷比最高的正离子^{(positive ion)}

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学习资料：

[单选题]在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。

A. A、正比计数器^{(proportional counter)}
B. B、闪烁计数器
C. C、晶体计数器
D. D、半导体探测器

[多选题]在直接电位法中采用标准加入法定量，可以（）。

A. 降低检测限
B. 扩大线性范围
C. 可不加总离子强度调节缓冲液
D. 提高测定准确度

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