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器件的横向尺寸控制几乎全由()来实现。

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    半导体(semiconductor)、自由能(free energy)、胶粘剂(adhesive)、变容二极管(varactor)、电容量(capacity)、晶体缺陷(crystal defect)、热塑性树脂(thermoplastic resin)、热固性树脂(thermosetting resin)

  • [单选题]器件的横向尺寸控制几乎全由()来实现。

  • A. 掩膜版
    B. 扩散
    C. 光刻

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  • 学习资料:
  • [单选题]变容二极管的电容量随()变化。
  • A. 正偏电流
    B. 反偏电压
    C. 结温

  • [单选题]厚膜元件烧结时,浆料中的固体颗粒由接触到结合、自由表面的收缩、空隙的排除、晶体缺陷(crystal defect)的消除等都会使系统的自由能(),从而使系统转变为热力学中更稳定的状态。
  • A. 降低
    B. 升高
    C. 保持不变

  • [单选题]常用胶粘剂有热固性树脂(thermosetting resin)、热塑性树脂(thermoplastic resin)和橡胶型胶粘剂3大类。半导体器件的粘封工艺一般选用()。
  • A. 热塑性树脂(thermoplastic resin)
    B. 热固性或橡胶型胶粘剂

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