一单能X射线通过3个半值层的厚度后强度为原来的（）

【名词&注释】

基本原则(basic principle)、半导体(semiconductor)、吸收剂量(absorbed dose)、测量法(measurement)、剂量计(dosimeter)、电离室法(ionization chamber method)

[单选题]一单能X射线通过3个半值层的厚度后强度为原来的（）

A. 1/2
B. 1/3
C. 1/4
D. 1/8
E. 1/16

查看答案&解析 查看所有试题

学习资料：

[单选题]X线发生效率的公式是（）

A. η=KZU
B. η=KZ/U
C. H=KZ2U
D. η=KZU2
E. η=K2ZU

[单选题]吸收剂量的基本测量法是（）

A. 电离室法^{(ionization chamber method)}
B. 量热法
C. 热释光剂量计^(dosimeter)测量法
D. 胶片剂量测量法
E. 半导体剂量仪测量法

[单选题]放射防护的基本原则是（）

A. 实践的正当化
B. 防护最优化
C. 个人剂量限制
D. 以上都是
E. 以上都不是

[单选题]铅当量的单位是（）

A. mmPb
B. cmPb
C. mPb
D. dmPb
E. nmPb

本文链接：https://www.51bdks.net/show/gkewjn.html