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在计算出控制图的上下控制限后,可以比较上下控制限与上下公差限

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    交互作用(interaction)、独立性(independence)、子系统(subsystem)、公理化设计(axiomatic design)、西格玛水平(sigma level)

  • [单选题]在计算出控制图的上下控制限后,可以比较上下控制限与上下公差限的数值。这两个限制范围的关系()

  • A. 上下控制限的范围一定与上下公差限的范围相同
    B. 上下控制限的范围一定比上下公差限的范围宽
    C. 上下控制限的范围一定比上下公差限的范围窄
    D. 上下控制限的范围与上下公差限的范围一般不能比较

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  • [多选题]假设其它参量不变,随着数据散布σ的变大:()
  • A. α变大
    B. β变大
    C. δ变大
    D. N变大

  • [单选题]如果一辆车在冬天的大清早能成功启动的概率为0.8而我们有两辆类似的汽车,请问在一个冬天的大清早上,最少有一辆汽车能被成功启动的概率是?()
  • A. 0.64
    B. 0.16
    C. 0.96
    D. 0.32

  • [单选题]对比以下各相关系数(R),表示线性相关性最好的是哪一个?()
  • A. -0.2
    B. -0.8
    D. 0.7

  • [单选题]某种产品,单位产品上可能的缺陷数为5种,现检查500个产品,发现缺陷品为10片,缺陷数共15个,则DPMO为:()
  • A. 10000
    B. 20000
    C. 6000
    D. 0.03

  • [单选题]在公理化设计中,“独立性公理”也称为,其含义是()
  • A. 简化公理,信息含量最少
    B. 模块化公理,最大限度地减少各功能要求间的“耦合”
    C. 简化公理,避免设计参数间的交互作用
    D. 模块化公理,实现各子系统并行设计

  • [单选题]下列对流程的陈述中错误的是()
  • A. 当流程不受特殊因素影响时,流程在统计受控状态下
    B. 当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时,流程是在统计受控状态下
    C. 当控制限落在客户规格限内时,流程是在统计受控状态下
    D. 当流程仅受偶然原因变异的影响时,流程是在统计受控之下

  • [多选题]在芯片生产车间,每天抽8块芯片检查其暇疵点个数。为了监测暇疵点数,对于控制图的选用,下列正确的是()
  • A. 使用C控制图最方便
    B. 也可以使用U控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便
    C. 也可以使用p控制图,效果和C控制图相同,但不如C控制图方便
    D. 使用np控制图,效果和C控制图相同

  • [单选题]某公司生产的产品的DPMO为1800ppm,通过查表知其Z值为2.91,则该公司的西格玛水平(sigma level)是()
  • A. 2.91
    B. 4.41
    C. 1.41
    D. 以上都不对

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