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半导体分立器件、集成电路对外壳的主要要求之一是:良好的热性能

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    可靠性(reliability)、半导体(semiconductor)、平整度(smoothness)、集成电路(integrated circuit)、变容二极管(varactor)、电容量(capacity)、超小型(microminiature)、有效地(effectively)、超声热压焊、关键因素。

  • [单选题]半导体分立器件、集成电路对外壳的主要要求之一是:良好的热性能。外壳应有小的(),使芯片的热量有效地(effectively)散逸出去,保证器件在正常结温下工作。

  • A. 热阻
    B. 阻抗
    C. 结构参数

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  • 学习资料:
  • [单选题]变容二极管的电容量随()变化。
  • A. 正偏电流
    B. 反偏电压
    C. 结温

  • [单选题]在突缘电阻焊工艺中,要获得良好的焊接质量,必须确定的基本规范包括()
  • A. 焊接电流、焊接电压和电极压力
    B. 焊接电流、焊接时间和电极压力
    C. 焊接电流、焊接电压和焊接时间

  • [单选题]外壳设计包括()设计、热性能设计和结构设计三部分,而可靠性设计也包含在这三部分中间。
  • A. 电性能
    B. 电阻
    C. 电感

  • [单选题]超声热压焊的主要应用对象是超小型(microminiature)镀金外壳与镀金管帽的焊接,焊接处依靠()封接,因而外壳零件的平整度和镀金层厚度是实现可靠性封接的关键因素。
  • A. 管帽变形
    B. 镀金层的变形
    C. 底座变形

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