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将硅锭切割成硅片的过程中,多线切割对硅片造成的损伤层的厚度约

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    半导体(semiconductor)、分辨率(resolution)、太阳能(solar energy)、显示器(display)、像素点(pixel point)、太阳电池方阵(solar pv array)、多线切割

  • [单选题]将硅锭切割成硅片的过程中,多线切割对硅片造成的损伤层的厚度约为()μm。

  • A. A.10B.20C.5D.15

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  • 学习资料:
  • [单选题]太阳能光伏发电系统中,太阳电池组件表面被污物遮盖,会影响整个太阳电池方阵(solar pv array)所发出的电力,从而产生()。
  • A. 霍尔效应
    B. 孤岛效应
    C. 充电效应
    D. 热斑效应

  • [单选题]考虑一个特殊的半导体样品,通过计算,已知少子辐射复合寿命为150μs,俄歇复合寿命为50μs,陷阱复合过程的寿命为25μs,假设没有其它的有效复合过程,那么该材料少子的净寿命是()
  • A. 15μs
    B. 225μs
    C. 1.5μs
    D. 20μs

  • [单选题]显示器的分辨率高低表示()。
  • A. A.在同一字符面积下,所需像素点越多,其分辨率越低B.在同一字符面积下,所需像素点越多,其显示的字符越不清楚C.在同一字符面积下,所需像素点越多,其分辨率越高D.在同一字符面积下,所需像素点越少,其字符的分辨效果越好

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