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A型扫描显示探伤仪主要由()组成。

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    介电常数(dielectric constant)、陶瓷材料(ceramic materials)、全反射(total reflection)、逆压电效应(converse piezoelectric effect)、单晶体(single crystal)、第一临界角、折射角(refraction angle)、接触法(contact method)、多晶体(polycrystal)、正压电效应(direct piezoelectricity)

  • [单选题]A型扫描显示探伤仪主要由()组成。

  • A. A、电源电路、同步电路
    B. B、发射电路、时基扫描电路
    C. C、接收电路、显示电路
    D. D、以上都是

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  • 学习资料:
  • [单选题]某些单晶体或多晶体(polycrystal)陶瓷材料,在应力作用下产生应变时引起晶体电荷的不对称分配,异种电荷向正反两面集中,材料的晶体就产生电场和极化,这种现象称为()。
  • A. A、正压电效应(direct piezoelectricity)
    B. B、逆压电效应
    C. C、压电常数
    D. D、介电常数

  • [单选题]()是指纵波入射时使第二介质中的横波折射角(refraction angle)等于90°时的纵波入射角及第二介质中的横波全反射。
  • A. A、第二临界角
    B. B、第一临界角
    C. C、第三临界角
    D. D、以上都不对

  • [单选题]直接接触法(contact method)探伤可以使用()。
  • A. A、直探头
    B. B、斜探头
    C. C、双晶探头
    D. D、以上都可以

  • [单选题]携带式X射线设备常用()。
  • A. A、倍压电路
    B. B、半波自整流电路
    C. C、全波整流电路
    D. D、以上都不是

  • [单选题]在焊缝上摆放线条型像质计时,像质计()应接近射线透照场边缘方向。
  • A. A、粗线端
    B. B、细线端
    C. C、中部
    D. D、可随意放

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