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用不同角度的探头对同一缺陷探测时,所得缺陷的深度是不同的。

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    反射率、声阻抗(acoustic impedance)、入射角(incident angle)、反射角、折射角(refraction angle)

  • [判断题]用不同角度的探头对同一缺陷探测时,所得缺陷的深度是不同的。

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  • 学习资料:
  • [单选题]材料晶粒尺寸增大,对超声波探伤的主要影响是()。
  • A. A、声阻
    B. B、衰减
    C. C、声阻抗
    D. D、折射角(refraction angle)

  • [单选题]端角反射率的大小与入射角和()有关。
  • A. A、折射角(refraction angle)
    B. B、反射角
    C. C、偏斜角
    D. D、入射波形

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