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检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带

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    有机玻璃(pmma)

  • [判断题]检验近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块,减小了纵波单晶探头存在的阻塞。

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  • 学习资料:
  • [单选题]克希荷夫电流定律:对于电路中任一节点,在任一时刻,流入该节点的电流()流出该节点的电流。
  • A. B

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