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关于X线强度分布的叙述,正确的是()

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  • 【名词&注释】

    结合能(binding energy)、光电效应、吸收剂量率(absorbed dose rate)、电子对效应(pair electron production)、康普顿效应(compton effect)、轫致辐射(bremsstrahlung)、正离子(positive ion)、一部分(part)、光核反应、电离室法(ionization chamber method)

  • [单选题]关于X线强度分布的叙述,正确的是()

  • A. 与靶面倾斜角度无关
    B. 阴极端X线强度弱
    C. 照射野内分布均匀
    D. X线管短轴方向两侧对称
    E. 与靶面状况无关

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  • 学习资料:
  • [单选题]能量80keV的电子入射到X射线管的钨靶上产生的结果是()
  • A. 连续X射线的最大能量是80keV
    B. 特征X射线的最大能量是80keV
    C. 产生的X射线绝大部分是特征X射线
    D. 仅有1%的电子能量以热量的形式沉积在钨靶中
    E. 以上都是

  • [单选题]不是光电效应的产物的是()
  • A. A.光电子B.正离子(positive ion)C.特征辐射D.俄歇电子E.轫致辐射

  • [单选题]在诊断X线能量范围内,错误的是()
  • A. 相干散射不产生电离过程
    B. 光电效应产生的几率与能量成正比
    C. 康普顿效应产生的几率与能量成反比
    D. 不发生电子对效应
    E. 不发生光核反应

  • [单选题]关于X射线剂量的叙述,错误的是()
  • A. 修正后的吸收剂量称为当量剂量
    B. 照射量率是单位时间内照射量的增量
    C. 单位质量物质中所形成的离子的总电荷量是照射量
    D. 吸收剂量率表示单位时间内吸收剂量的增量
    E. 照射量是1R的照射使每千克空气吸收0.00875的能量

  • [单选题]吸收剂量的基本测量法是()
  • A. 电离室法(ionization chamber method)
    B. 量热法
    C. 热释光剂量计测量法
    D. 胶片剂量测量法
    E. 半导体剂量仪测量法

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