必典考网

静电在达到(),器件被完全损坏。

  • 下载次数:
  • 支持语言:
  • 225
  • 中文简体
  • 文件类型:
  • 支持平台:
  • pdf文档
  • PC/手机
  • 【名词&注释】

    数据包(packet)、物理地址(physical address)、主控板(main control board)、第一个(first)、干扰随机化、随机化技术(randomized technique)

  • [单选题]静电在达到(),器件被完全损坏。

  • A. 800V
    B. 900V
    C. 1000V
    D. 2000V

  • 查看答案&解析 查看所有试题
  • 学习资料:
  • [单选题]在LTE系统协议中,eNB侧MAC层对下行数据进行处理是()。
  • A. 编码
    B. 复用
    C. 压缩和加密
    D. 调制

  • [多选题]下列哪些技术属于干扰随机化技术(randomized technique)()。
  • A. 加扰
    B. 跳频
    C. 交织
    D. 波束赋型

  • [单选题]登录基站0槽位主控板SCTA板卡的物理地址为()。
  • A. 172.27.245.100
    B. 172.27.245.91
    C. 172.27.245.92
    D. 172.27.245.90

  • [多选题]对于LTE系统内S1切换时延描述正确的是()。
  • A. 上行时延=S1切换前源基站收到第一个上行数据包的时间—S1切换后目标基站收到最后一个上行数据包的时间;
    B. 上行时延=S1切换后目标基站收到第一个上行数据包的时间—S1切换前源基站收到最后一个上行数据包的时间
    C. 下行时延=S1切换前源基站发送第一个下行数据包的时间—S1切换后目标基站发送最后一个下行数据包的时间;
    D. 下行时延=S1切换后目标基站发送第一个下行数据包的时间—S1切换前源基站发送最后一个下行数据包的时间。

  • 本文链接:https://www.51bdks.net/show/5z339y.html
  • 推荐阅读

    必典考试
    @2019-2025 必典考网 www.51bdks.net 蜀ICP备2021000628号 川公网安备 51012202001360号