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晶硅栅极刻蚀最大的挑战就是对二氧化硅的高选择性。超薄的()使

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    电子束蒸发(electron beam evaporation)、选择性(selectivity)、多晶硅(polysilicon)、等离子(plasma)、真空蒸发(vacuum evaporation)、粒子束(particle beams)、场氧化层(field oxide)、离子束蒸发(ion beam evaporation)

  • [单选题]晶硅栅极刻蚀最大的挑战就是对二氧化硅的高选择性。超薄的()使得在刻蚀多晶硅电极时对它的刻蚀要尽可能的小。

  • A. n型掺杂区
    B. P型掺杂区
    C. 栅氧化层
    D. 场氧化层(field oxide)

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  • 学习资料:
  • [单选题]在刻蚀()过程中假如我们在CF5的等离子体内加入适量的氧气,能够提高刻蚀的速率。
  • A. 铜
    B. 铝
    C. 金
    D. 二氧化硅

  • [多选题]按加热源的不同,可以分成()几种不同类型的蒸发。
  • A. 真空蒸发
    B. 离子束蒸发(ion beam evaporation)
    C. 电子束蒸发
    D. 粒子束(particle beams)蒸发
    E. 常压蒸发

  • [多选题]树脂使用过程中需保持一定温度,阳树脂和阴树脂分别不能高于()度,使用温度不能过低,低于0度会使树脂冻裂。
  • A. 80
    B. 60
    C. 40
    D. 20
    E. 10

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