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双边规格如果控制图R Chart上的点逐渐偏于下限,则该工序参数的

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    基本原则(basic principle)、破坏性(destructive)、找不到(not to find)

  • [单选题]双边规格如果控制图R Chart上的点逐渐偏于下限,则该工序参数的工序能力:()。

  • A. CPK逐步变大
    B. CP逐步变大
    C. CPK逐步变小
    D. CP逐步变小

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  • 学习资料:
  • [单选题]在使用控制图,对数据进行分组的基本原则是()。
  • A. 组内变异小,组间变异大
    B. 组内变异大,组间变异小
    C. 组内变异和组间变异相同

  • [单选题]Cpk和Ppk有何差异?()
  • A. Cpk是用子组均值计算,Ppk是用单点计算
    B. Cpk是用单点计算,Ppk是用子组均值计算
    C. 没什么区别

  • [单选题]一张控制图可以对应允许最多有()只SPC Head。
  • A. 1
    B. 2
    C. 3

  • [单选题]Product SPC控制参数应用抽样评估风险所采用的AQL值最大为()。
  • A. 0.65%
    B. 0.6%
    C. 1%

  • [单选题]在Lot Size和AQL相同的情况下,不同检查水平对客户的保护程度由小到大的检查水平顺序为:()。
  • A. I,II,III
    B. III,II,I
    C. II,III,I
    D. II,I,III

  • [多选题]生产线上可以用抽检的工序有:()。
  • A. 工序能力大于2的工序
    B. 破坏性推力测试工序
    C. CPK大于1的工序

  • [单选题]如果生产主任找不到X-R Chart失控的原因,下一步应该交谁来处理:()。
  • A. 生产经理
    B. QE工程师
    C. ME工程师
    D. 生产组长

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