必典考网

可以改变仪器灵敏度的控制开关或旋钮有()。

  • 下载次数:
  • 支持语言:
  • 945
  • 中文简体
  • 文件类型:
  • 支持平台:
  • pdf文档
  • PC/手机
  • 【名词&注释】

    半衰期(half-life)、后热处理(post treatment)、衰减器(attenuator)、接触不良(bad contact)

  • [单选题]可以改变仪器灵敏度的控制开关或旋钮有()。

  • A. 增益、抑制
    B. 衰减器、发射强度
    C. 重复频率
    D. 以上都对

  • 查看答案&解析 查看所有试题
  • 学习资料:
  • [单选题]以下与再热裂纹有关的叙述是()。
  • A. 产生于焊接热影响区的过热粗晶区
    B. 产生于焊后热处理等、再次加热的过程中
    C. 最易产生于沉淀强化的钢中
    D. 以上各点

  • [单选题]在直探头探伤过程中,引起底波高度明显下降或消失的因素有()。
  • A. A、探头接触不良(bad contact)
    B. B、遇到材质衰减大的部位
    C. C、工件底面不平或工件内部有缺陷
    D. D、以上都对

  • [单选题]能量为2MeV的γ射线源,经过3个半衰期后,其γ射线的能量为()。
  • A. 1MeV
    B. 0.5MeV
    C. 0.25MeV
    D. 2MeV

  • [单选题]X、γ射线的区别是()。
  • A. 穿透能力不同
    B. 强度不同
    C. 产生机理不同
    D. 以上都是

  • [单选题]电子的能级最高的是()。
  • A. 外壳层
    B. 中间壳层
    C. 内壳层
    D. 以上都不对

  • 本文链接:https://www.51bdks.net/show/466x3l.html
  • 推荐阅读

    必典考试
    @2019-2025 必典考网 www.51bdks.net 蜀ICP备2021000628号 川公网安备 51012202001360号