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- 量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即（）确定。在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于（）。测量精度
制造
- 按我国法计量单位的使用规则,15℃应读成（）。15度
摄氏15度
15摄氏度#
- 无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过（）。分度值为0.05mm/m的条式水平仪,零位误差不超过（）。±0.01mm
±0.02mm
±0.03mm#分度值的1/4#
分度值的1/3
分度值的1/2
- 标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以（）为基准。尺寸准确性
耐磨性
尺寸稳定性#设计
- 用游标卡尺测量工件时,要尽量进入量爪内靠近尺身,这是为了减少（）。内径量表示值误差是在工作行程（）上进行检定。比较仪工作台面与测量轴线的垂直度应不大于（）。接触变形
读数误差
测量误差#正向（测头压缩）#
- 千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以（）为
- 孔径千分尺的测微螺距是0.25mm,测微螺杆旋转一周,则三爪组成的园周半径位移是（）。检定游标高度尺的示值误差或量爪工作面与基座工作面的平行度时,在1级平板上进行,对1级平板来说,其平面度不大于（）。0.25mm#
0.5mm
- 标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的（）。比较仪测帽测量面对测量轴线的垂直度不大于（）。两光波频率相同,在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差,这是光波产生干涉的（）。尺
- 在测量量块的平面平行性时,除了采用（）技术外,一般都是从中心长度与四个角点的长度相比较,取其中最大绝对值作为该量块平面平行性偏差。内径量表示值误差是在工作行程（）上进行检定。光栅
激光
光波干涉#正向（测头
- 标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以（）为基准。尺寸准确性
耐磨性
尺寸稳定性#设计
- 壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。检定游标量具游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离是为了控制（）。由接触位置改变所引起的误差,对点接触来说是（）。已知某仪器最大允许误差为3（置信概率0.9973
- 比较仪指针末端应盖住分度盘短刻线长度的（）。比较仪工作台面与测量轴线的垂直度应不大于（）。20-70%
30-80%#
40-90%3′（或0.007/8）
4′（或0.059/8）
5′（或0.012/8）#
- 在使用测长机测量平面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的球面测帽调整到正确的状态,其达到正确状态时,测长机的示值应处于（）。最小值
最大值#
一方位最大值,另一方位最小值
- 量块的级根据中心长度极限偏差,平面平行度偏差和其它有关技术条件即（）确定。直角尺的工作角的垂直度要求,随其结构型式不同也不一样,有的分0级和1级,也有的分1级和2级。那么1级直角尺的工作角,其垂直度不超过（）。
- 两测量面的平行度,齿厚卡尺的综合误差应不超过（）。用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,这种现象称为（）。被计量的电源是0.45A,为便计量结果更准确些,应选下列电流表中的（）。块的级
- 量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即（）确定。已知某仪器最大允许误差为3（置信概率0.9973）,则其B类不确定度表征值为（）。一级杠杆千分表,在任意0.2mm范围内的示
- 用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的（）。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即（）确定。一块#
二块
三块测量精度
制造精度
检定误差#
- 标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的（）。比较仪指针末端应盖住分度盘短刻线长度的（）。尺寸准确性
耐磨性
尺寸稳定性#20-70%
30-80%#
40-90%
- 非接触测量是测量装置的（）元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。杠杆齿轮式比较仪的示值变化及示值误差在非正常方位时,可按正常方位放大（）。敏感#
灵敏
灵活20%
30%
50%#
- 在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度（）。变凹#
变凸
不变
- 在检定量杆时,为使杆的长度变化最小,通常采用贝塞尔点进行支承。已知杆长为L,两支承点距杆两端面距离均为ａ,则满足贝塞尔点的条件是（）。壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。千分尺的两工作面,如果
- 在测量量块的平面平行性时,除了采用（）技术外,一般都是从中心长度与四个角点的长度相比较,取其中最大绝对值作为该量块平面平行性偏差。光栅
激光
光波干涉#
- 在检定量杆时,为使杆的长度变化最小,通常采用贝塞尔点进行支承。已知杆长为L,两支承点距杆两端面距离均为ａ,则满足贝塞尔点的条件是（）。孔径千分尺的测微螺距是0.25mm,测微螺杆旋转一周,则三爪组成的园周半径位移
- 千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为（）。量块的级根据中心长度极限偏差,平面平行度偏差和其它有关技术条件即（）确定。比较仪测帽测量
- 在接触测量中,其接触形式对测量结果也有影响,点接触所引起的误差为（）。无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过（）。标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,即设计、工艺、测量和装配等基面
- 在测量量块的平面平行性时,除了采用（）技术外,一般都是从中心长度与四个角点的长度相比较,取其中最大绝对值作为该量块平面平行性偏差。比较仪测帽测量面对测量轴线的垂直度不大于（）。在白光情况下,用平晶以技术光
- 壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。接触测量是测量装置的（）元件（测头）与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点支承,其支承点应选择（）
- 非接触测量是测量装置的（）元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。敏感#
灵敏
灵活
- 在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于（）。0.001mm
0.002mm#
0.003mm
- 在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于（）。用游标卡尺测量工件时,要尽量进入量爪内靠近尺身,这是为了减少（）。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极
- 比较仪指针末端应盖住分度盘短刻线长度的（）。分度值为0.05mm/m的条式水平仪,零位误差不超过（）。20-70%
30-80%#
40-90%分度值的1/4#
分度值的1/3
分度值的1/2
- 在使用测长机测量球面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的平面测帽调整到正确的位置,其达到正确的位置时,测长机的示值应处于（）。用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,又要（）适应。测量基面的选择要遵守
- 用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,这种现象称为（）。非接触测量是测量装置的（）元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。在检定大量块时,为了使其变形最小,其支承点应选择（）。内径
- 比较仪工作台面与测量轴线的垂直度应不大于（）。检定游标高度尺的示值误差或量爪工作面与基座工作面的平行度时,在1级平板上进行,对1级平板来说,其平面度不大于（）。在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平
- 壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为（）。块的级根据中心长度极限偏差,平面平行度
- 内径千分表的示值误差受检点是每隔（）检一点。0.1mm
0.02mm
0.05mm#
- 量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即（）确定。块的级根据中心长度极限偏差,平面平行度偏差和其它有关技术条件即（）确定。两光波频率相同,在相遇点有相同的振动方
- 用平行平晶来检定杠杆式卡规,检定所需平晶数的（）。在测量量块的平面平行性时,除了采用（）技术外,一般都是从中心长度与四个角点的长度相比较,取其中最大绝对值作为该量块平面平行性偏差。接触测量是测量装置的（）
- 比较仪指针末端应盖住分度盘短刻线长度的（）。20-70%
30-80%#
40-90%
- 在使用测长机测量平面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的球面测帽调整到正确的状态,其达到正确状态时,测长机的示值应处于（）。用等厚干涉测量平直度时,两条相邻干涉条纹所对应的空气隙厚度差为（）。最小值
最大值#
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