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- 孔径千分尺的测微螺距是0.25mm,测微螺杆旋转一周,则三爪组成的园周半径位移是（）。检定游标量具游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离是为了控制（）。用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化
- 用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的（）。千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为（）。内径千分表的示值误差
- 壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。孔径千分尺的测微螺距是0.25mm,测微螺杆旋转一周,则三爪组成的园周半径位移是（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽
- 在接触测量中,其接触形式对测量结果也有影响,最常见的接触形式有点接触、线接触和面接触。从误差角度考虑,点接触所引起的误差为（）。检定游标量具游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离是为了控制（）。量块的级根据
- 那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为（）。无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过（）。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即（）确
- 千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为（）。标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,15℃应读成（）。一级杠杆千分表,需要
- 在使用测长机测量平面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的球面测帽调整到正确的状态,其达到正确状态时,测长机的示值应处于（）。在使用测长机测量球面校对量杆时,需要将安装在测量杆上的平面测帽调整到正确的位置,其
- 用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的（）。孔径千分尺的测微螺距是0.25mm,测微螺杆旋转一周,则三爪组成的园周半径位移是（）。接触测量是测量装置的（）元件（测头）与被测工件表面发生机
- 无论尺框紧固与否,要尽量进入量爪内靠近尺身,这是为了减少（）。接触测量是测量装置的（）元件（测头）与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。由接触位置改变所引起的误差,对点接触来说是（）。按我国法
- 被计量的电源是0.45A,为便计量结果更准确些,应选下列电流表中的（）。比较仪工作台面与测量轴线的垂直度应不大于（）。比较仪测帽测量面对测量轴线的垂直度不大于（）。上量限为5A的0.1级电流表
上量限为0.5A的0,5级
- 接触测量是测量装置的（）元件（测头）与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。下面是计量不确定度的几种定义,国际通用的定义是（）。块的级根据中心长度极限偏差,平面平行度偏差和其它有关技术条件即（）
- 标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以（）为基准。尺寸准确性
耐磨性
尺寸稳定性#设计
- 千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,并尽可能的以（）为
- 壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。检定游标量具游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离是为了控制（）。由接触位置改变所引起的误差,对点接触来说是（）。已知某仪器最大允许误差为3（置信概率0.9973
- 两测量面的平行度,齿厚卡尺的综合误差应不超过（）。用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,这种现象称为（）。被计量的电源是0.45A,为便计量结果更准确些,应选下列电流表中的（）。块的级
- 在检定量杆时,为使杆的长度变化最小,通常采用贝塞尔点进行支承。已知杆长为L,两支承点距杆两端面距离均为ａ,则满足贝塞尔点的条件是（）。壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。千分尺的两工作面,如果
- 在接触测量中,其接触形式对测量结果也有影响,点接触所引起的误差为（）。无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过（）。标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,即设计、工艺、测量和装配等基面
- 壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于（）。接触测量是测量装置的（）元件（测头）与被测工件表面发生机械接触并有机械作用的测量力。在检定大量块时,为了使其变形最小,采用两支点支承,其支承点应选择（）
- 用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,这种现象称为（）。非接触测量是测量装置的（）元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。在检定大量块时,为了使其变形最小,其支承点应选择（）。内径
- 用平行平晶来检定杠杆式卡规,检定所需平晶数的（）。在测量量块的平面平行性时,除了采用（）技术外,一般都是从中心长度与四个角点的长度相比较,取其中最大绝对值作为该量块平面平行性偏差。接触测量是测量装置的（）
- 非接触测量是测量装置的（）元件与被测工件表面不直接接触,因而没有机械作用的测量力。标准件的精度要求较高,一般应比被测件的精度高二级左右,同时还应有较高的（）。测量基面的选择要遵守基面统一原则,即设计、工艺
- 用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的（）。量块的等是在检定时,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即设计、工艺、测量和装配等基面一致,应选下列电流表中的（）。直角尺的工作角的垂直度
- 在接触测量中,其接触形式对测量结果也有影响,最常见的接触形式有点接触、线接触和面接触。从误差角度考虑,齿厚卡尺的综合误差应不超过（）。量块的等是在检定时,平行面平行度偏差的及其他检定要求,即（）确定。被计
- 千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为（）。用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方
- 无论尺框紧固与否,齿厚卡尺的综合误差应不超过（）。用游标卡尺测量工件时,要尽量进入量爪内靠近尺身,这是为了减少（）。对于没有标准规定的工件测量,测量方法的允许误差一般取工件公差的（）。已知某仪器最大允许误
- 正确选择测量方法的原则是：既要保证测量的精度,又要（）适应。用游标卡尺测量工件时,要尽量进入量爪内靠近尺身,这是为了减少（）。量块的等是在检定时,根据中心长度的测量极限误差,平行面平行度偏差的及其他检定要
- 为使杆的长度变化最小,通常采用贝塞尔点进行支承。已知杆长为L,两支承点距杆两端面距离均为ａ,则满足贝塞尔点的条件是（）。正确选择测量方法的原则是：既要保证测量的精度,根据中心长度的测量极限误差,其支承点应选
- 为使杆的长度变化最小,通常采用贝塞尔点进行支承。已知杆长为L,两支承点距杆两端面距离均为ａ,则满足贝塞尔点的条件是（）。用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的
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