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- 可以消除的像差是（）。当偏离矢量S晶体属于立方晶系,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为（）样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是（）球差；
像散；#
色差；
A+B。球面外；#
球
- 当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时所看到的粒子大小（）。可以提高TEM的衬度的光栏是（）。小于真实粒子大小；
是应变场大小；#
与真实粒子一样大小；
远远大于真实粒子第二聚光镜光栏；
物镜光栏；#
选区光栏；
- 中心暗场像的成像操作方法是（）。如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是（）。以物镜光栏套住透射斑；
以物镜光栏套住衍射斑；
将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。#六方结构；
立方结构；
四方结构；
- 已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时,位错不可见,那么它的布氏矢量是（）。b=（0-10）；
b=（1-10）；#
b=（0-11）；
b=（010）。
- 当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时的成像衬度是（）。可以提高TEM的衬度的光栏是（）。质厚衬度；
衍衬衬度；
应变场衬度；#
相位衬度。第二聚光镜光栏；
物镜光栏；#
选区光栏；
其它光栏。
- 当t=5s/2时,衍射强度为（）。立方晶系{100}晶面的多重性因子为（）透射电镜中聚光镜的作用是（）Ig=0；
Ig<0；
Ig>0；
Ig=Imax。#A、2
B、3
C、4
D、6#A、电子源
B、会聚电子束#
C、形成第一副高分辨率电子显
- 为了减小物镜的球差,往往在物镜的背焦面上安放一个（）德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（）。测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是（）。A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑#
C、选区光阑
D、索拉光阑正
- 为了减小物镜的球差,往往在物镜的背焦面上安放一个（）A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑#
C、选区光阑
D、索拉光阑
- 透射电镜中聚光镜的作用是（）选区光阑在TEM镜筒中的位置是（）A、电子源
B、会聚电子束#
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像A、物镜的物平面
B、物镜的像平面#
C、物镜的背焦面
D、物镜的前焦
- 已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时,位错不可见,那么它的布氏矢量是（）。b=（0-10）；
b=（1-10）；#
b=（0-11）；
b=（010）。
- 透射电镜成形貌像时是将（）可以提高TEM的衬度的光栏是（）。由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合
B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合#
C、关闭中间镜
D、关闭物
- 选区光阑在TEM镜筒中的位置是（）A、物镜的物平面
B、物镜的像平面#
C、物镜的背焦面
D、物镜的前焦面
- 物镜光阑安放在（）粉末照相法所用的试样形状为（）A、物镜的物平面
B、物镜的像平面
C、物镜的背焦面#
D、物镜的前焦面A、块状
B、分散
C、圆柱形#
D、任意形状
- 能提高透射电镜成像衬度的光阑是（）A、第二聚光镜光阑
B、物镜光阑#
C、选区光阑
D、索拉光阑
- 透射电镜中物镜的作用是（）A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像#
D、进一步放大物镜像
- 透射电镜中电中间镜的作用是（）对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是（）A、电子源
B、会聚电子束
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放大物镜像#A、不存在系统消光#
B、h+k为奇数
C、h+k+l为奇数
D
- 透射电镜中聚光镜的作用是（）M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称（）为了减小物镜的球差,往往在物镜的背焦面上安放一个（）A、电子源
B、会聚电子束#
C、形成第一副高分辨率电子显微图像
D、进一步放
- 透射电镜中电子枪的作用是（）当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称（）X射线物相定性分析时,若已知材料的物相可以查（）进行核对。透射电子显微镜中可以消除的像差是（）。透射电镜成形貌像时是将（）A、
- 由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（）若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是（）。为了减小物镜的球差,往往在物镜的背焦面上安放一个（）A、球差
B、像散
C、色差#
D、背散1000；
1
- 制造出世界上第一台透射电子显微镜的是（）A、德布罗意
B、鲁斯卡#
C、德拜
D、布拉格
- 由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为（）对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是（）以气体电离为基础制造的计数器是（）透射电镜中电子枪的作用是（）中心暗场像的成像操作方法是
- 由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（）A、球差
B、像散#
C、色差
D、背散
- 对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是（）粉末照相法所用的试样形状为（）利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光,而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（）透射电镜中聚光镜的作用是（）A、
- 晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（）。垂直；
平行；
不一定。#
- 粉末照相法所用的试样形状为（）当t=5s/2时,衍射强度为（）。A、块状
B、分散
C、圆柱形#
D、任意形状Ig=0；
Ig<0；
Ig>0；
Ig=Imax。#
- 在待测试样中掺入一定含量的标准物质,把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较,从而获得待测相含量的定量分析方法称为（）A、外标法
B、内标法#
C、直接比较法
D、K值
- 透射电子显微镜中可以消除的像差是（）。晶体属于立方晶系,一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4,则该晶面的指标为（）球差；
像散；#
色差。A、（364）
B、（234）#
C、（213）
D、（468）
- 将所需物相的纯物质另外单独标定,然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为（）当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程
- PDF卡片中,数据可靠程度最低的用（）表示对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有（）由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（）要分析基体中碳含量,一般应选用（）电子探针仪,A、i
B、★
C、○#
D、CA、112
B、113
C
- PDF卡片中,数据最可靠的用（）表示由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（）为了减小物镜的球差,往往在物镜的背焦面上安放一个（）当第二相粒子与基体呈共格关系时,此时的成像衬度是（）。A、i
B、★#
C、○
D、C
- X射线物相定性分析时,若已知材料的物相可以查（）进行核对。M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称（）中心暗场像的成像操作方法是（）。哈氏无机数值索引；
芬克无机数值索引；
戴维无机字母索引；#
A或B
- 利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光,而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（）为了减小物镜的球差,往往在物镜的背焦面上安放一个（）A、正比计数器
B、盖革计数器
C、闪烁计数器#
D、锂漂移硅
- 测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是（）。外标法；
内标法；
直接比较法；#
K值法。
- 以气体电离为基础制造的计数器是（）当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称（）可以消除的像差是（）。薄片状晶体的倒易点形状是（）。A、正比计数器
B、盖革计数器
C、闪烁计数器
D、A和B#短波限λ0；#
激
- 低角的弧线接近中心孔,高角线靠近端部的底片安装方法为（）A、正装法#
B、反装法
C、偏装法
D、任意安装都可
- 关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（）对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有（）不利于提高德拜相机的分辨率的是（）。在待测试样中掺入一定含量的标准物质,把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量
- 粉末照相法所用的试样形状为（）A、块状
B、分散
C、圆柱形#
D、任意形状
- 不利于提高德拜相机的分辨率的是（）。选区光栏在TEM镜筒中的位置是（）。采用大的相机半径；
采用X射线较长的波长；
选用大的衍射角；
选用面间距较大的衍射面。#物镜的物平面；
物镜的像平面#
物镜的背焦面；
物镜
- 样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是（）薄片状晶体的倒易点形状是（）。当偏离矢量S波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点是（）。要分析基体中碳含量,一般应选用（）电子探针仪,A、1﹕1
B、2﹕1#
C
- 热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（）透射电镜中电子枪的作用是（）A、温度升高引起晶胞膨胀
B、使衍射线强度减小
C、产生热漫散射
D、改变布拉格角
E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小#A、电子源#
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