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- 半导体分立器件、集成电路对外壳的主要要求之一是：良好的热性能。外壳应有小的（）,使芯片的热量有效地散逸出去,保证器件在正常结温下工作。溅射法是由（）轰击靶材表面,使靶原子从靶表面飞溅出来淀积在衬底上形成
- 非接触式厚膜电路丝网印刷时,丝网与基片之间有一定的距离,称为间隙,通常为（）。平行缝焊的工艺参数有焊接电流、焊接速度、焊轮压力和焊轮椎顶角。焊轮压力影响盖板和焊环之间高阻点的（）。压力太大,电阻值下降,对
- 双极晶体管的高频参数是（）。金属封装主要采用金属和玻璃密封工艺,金属作封装底盘、管帽和引线,（）做绝缘和密封。外壳设计包括（）设计、热性能设计和结构设计三部分,而可靠性设计也包含在这三部分中间。在低温玻
- 非接触式厚膜电路丝网印刷时,丝网与基片之间有一定的距离,称为间隙,通常为（）。pn结的击穿电压和反向漏电流既是晶体管的重要直流参数,也是评价（）的重要标志。小于0.1mm
0.5～2.0mm#
大于2.0mm扩散层质量#
设计
光
- 在突缘电阻焊工艺中,要获得良好的焊接质量,必须确定的基本规范包括（）溅射法是由（）轰击靶材表面,使靶原子从靶表面飞溅出来淀积在衬底上形成薄膜。在低温玻璃密封工艺中,常用的运载剂由2％（质量比）的硝化纤维素
- 双极晶体管的1c7r噪声与（）有关。常用胶粘剂有热固性树脂、热塑性树脂和橡胶型胶粘剂3大类。半导体器件的粘封工艺一般选用（）。器件的横向尺寸控制几乎全由（）来实现。基区宽度
外延层厚度
表面界面状态#热塑性树
- 禁带宽度的大小决定着电子从价带跳到导带的难易,一般半导体材料的禁带宽度越宽,所制作的半导体器件中的载流子（）外界因素（如高温和辐射等）的干扰而产生变化。非接触式厚膜电路丝网印刷时,丝网与基片之间有一定的
- 塑封中注塑成型工艺主要工艺参数有（）、模具温度、合模压力、注射压力、注射速度和成型时间。金属封装主要采用金属和玻璃密封工艺,金属作封装底盘、管帽和引线,（）做绝缘和密封。外壳设计包括（）设计、热性能设计
- 双极晶体管的高频参数是（）。在低温玻璃密封工艺中,常用的运载剂由2％（质量比）的硝化纤维素溶解于98％（质量比）的醋酸异戊酯或松油醇中制得,再将20％的运载剂与（）的玻璃料均匀混合,配成印刷浆料。pn结的击穿电
- 非接触式厚膜电路丝网印刷时,丝网与基片之间有一定的距离,称为间隙,通常为（）。厚膜元件烧结时,浆料中的固体颗粒由接触到结合、自由表面的收缩、空隙的排除、晶体缺陷的消除等都会使系统的自由能（）,从而使系统转
- 禁带宽度的大小决定着电子从价带跳到导带的难易,一般半导体材料的禁带宽度越宽,所制作的半导体器件中的载流子（）外界因素（如高温和辐射等）的干扰而产生变化。变容二极管的电容量随（）变化。双极晶体管的1c7r噪声
- 双极晶体管的1c7r噪声与（）有关。半导体分立器件、集成电路对外壳的主要要求之一是：良好的热性能。外壳应有小的（）,使芯片的热量有效地散逸出去,保证器件在正常结温下工作。在突缘电阻焊工艺中,要获得良好的焊接
- 变容二极管的电容量随（）变化。双极晶体管的1c7r噪声与（）有关。厚膜元件烧结时,浆料中的固体颗粒由接触到结合、自由表面的收缩、空隙的排除、晶体缺陷的消除等都会使系统的自由能（）,从而使系统转变为热力学中更
- 非接触式厚膜电路丝网印刷时,丝网与基片之间有一定的距离,称为间隙,通常为（）。厚膜元件烧结时,浆料中的固体颗粒由接触到结合、自由表面的收缩、空隙的排除、晶体缺陷的消除等都会使系统的自由能（）,从而使系统转
- 禁带宽度的大小决定着电子从价带跳到导带的难易,一般半导体材料的禁带宽度越宽,所制作的半导体器件中的载流子（）外界因素（如高温和辐射等）的干扰而产生变化。在突缘电阻焊工艺中,要获得良好的焊接质量,必须确定的
- 变容二极管的电容量随（）变化。外壳设计包括（）设计、热性能设计和结构设计三部分,而可靠性设计也包含在这三部分中间。金属封装主要用于混合集成电路封装,外壳零件一般有底盘、管帽、引线和玻璃绝缘子组成。底盘、
- 变容二极管的电容量随（）变化。平行缝焊的工艺参数有焊接电流、焊接速度、焊轮压力和焊轮椎顶角。焊轮压力影响盖板和焊环之间高阻点的（）。压力太大,电阻值下降,对形成焊点不利,焊轮压力太小,则造成接触不良,不但
- 半导体分立器件、集成电路对外壳的主要要求之一是：良好的热性能。外壳应有小的（）,使芯片的热量有效地散逸出去,保证器件在正常结温下工作。厚膜元件烧结时,浆料中的固体颗粒由接触到结合、自由表面的收缩、空隙的
- 厚膜元件烧结时,浆料中的固体颗粒由接触到结合、自由表面的收缩、空隙的排除、晶体缺陷的消除等都会使系统的自由能（）,从而使系统转变为热力学中更稳定的状态。平行缝焊的工艺参数有焊接电流、焊接速度、焊轮压力和
- 厚膜元件烧结时,浆料中的固体颗粒由接触到结合、自由表面的收缩、空隙的排除、晶体缺陷的消除等都会使系统的自由能（）,从而使系统转变为热力学中更稳定的状态。外壳设计包括（）设计、热性能设计和结构设计三部分,
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